电机堵转检测异常触发

发表于 2025-4-20 16:00

用STM32G431的HRTIM做无刷电机控制，堵转保护逻辑在空载时误触发。电流采样电路加了二阶滤波，比较器阈值反复调整无效，是否因PWM死区时间设置不当引起电流检测相位偏差？

发表于 2025-4-30 23:41

若死区时间过长，会使实际导通相位与预期存在偏差，从而影响采样窗口位置。

发表于 2025-5-26 07:23

是不是电流采样点跟实际导通时刻对不上，PWM死区时间确实可能让采样偏早或偏晚。

发表于 2025-5-26 07:25

HRTIM控制的时候你有没有试过用ADC触发同步采样？有时候不对齐采样时机会有误判。

发表于 2025-5-26 07:26

二阶滤波虽然稳，但时延也大，建议先关掉试试是不是滤波延迟带来的假象。

发表于 2025-5-26 07:27

你设置的堵转阈值是不是太敏感了？空载时的毛刺可能也触发保护逻辑。

发表于 2025-5-26 07:28

我之前也遇到类似情况，最后是在比较器前加了软延迟做确认才解决的。

发表于 2025-5-26 07:29

有没有在软件里加个平均或者中值滤波判断？单点比较很容易误触发。

发表于 2025-5-26 07:30

死区时间设得太长确实会导致采样点偏离，需要结合导通时间校准一下采样延迟。

发表于 2025-5-26 07:31

建议你试试看用DMA方式采样一整波形，再离线分析采样点和实际电流波形的对齐情况。

发表于 2025-5-26 07:32

如果你用的是低边采样，也要注意电流反灌或寄生导通带来的尖峰误差。

发表于 2025-5-26 07:32

另外一个方向是，你有没有试试用OpAmp+COMP直接进HRTIM Event来触发关断？硬件路径更稳定

发表于 2025-5-26 12:04

最小化合理死区时间，平衡开关损耗与电流畸变。

发表于 2025-5-26 14:00

精确配置HRTIM触发ADC的时序，补偿滤波器相位延迟。

发表于 2025-5-26 19:00

硬件滤波器参数优化，在噪声抑制与相位延迟间取得平衡。

发表于 2025-5-31 23:46

死区时间插入后，会延迟上下桥 MOS 的开关时间；

导致实际相电流的导通时间与 PWM 波形出现偏差；

[STM32G4] 电机堵转检测异常触发