GD32E230, VREFINT居然每次复位都会变?

发表于 2024-10-9 15:09

在VDD和VREF引脚附近增加更多的去耦电容，特别是高质量的多层陶瓷电容（MLCC）。

发表于 2024-10-9 16:45

内部基准源的输出可能会受到温度变化的影响。如果环境温度变化较大，可能会导致内部基准源的输出不稳定。
考虑在设计中添加温度补偿电路或使用温度稳定的环境来进行测试。

发表于 2024-10-9 18:23

单片机的电源稳定，避免电源波动影响内部基准电压的稳定性。

发表于 2024-10-10 10:51

如果微控制器的工作环境温度变化很大，并且没有进行适当的温度补偿，vrefint可能会发生波动。

发表于 2024-10-11 07:44

然后切换到像431这样的校准芯片

发表于 2024-10-13 14:42

外部电源不准确，导致参考电源不准确

发表于 2024-10-17 19:24

最好使用稳定可靠的外部基准电源

发表于 2024-10-21 20:57

这一次我使用vrefint，发现每次复位后ADC采样结果差别很大

发表于 2024-10-22 08:13

上电时校准一下参考电压值

发表于 2024-10-22 14:02

我的理解是，每个创业公司都不一样，这很正常。请校准它，

发表于 2024-10-29 09:38

如果想提高int的精度，可以尝试使用外部参考，

发表于 2024-10-29 15:30

内部基准我觉得并不是很准，其实可以考虑用外部的基准电源就好了

发表于 2024-10-29 18:33

是不是用电量很大，纹波好像很大？

发表于 2024-10-30 17:23

所以每次做ADC的采集的时候都会采集一下基准电压

发表于 2024-11-2 20:57

ADC配置参数与实际要求相匹配，以获得最佳采样结果。

发表于 2024-11-4 22:14

在微控制器的电源和地之间添加去耦电容，以降低电源噪声对内部基准电压的影响。

发表于 2024-11-6 13:36

MCU的电源是稳定的，以避免电源波动影响内部基准电压的稳定性。

发表于 2024-11-12 19:56

然后切换到类似1的校准芯片，

发表于 2024-11-14 23:49

我认为内部基准不是很准确。事实上，我们可以考虑使用外部基准电源。

发表于 2024-11-16 10:04

是不是很耗电，好像有很多波纹？