大家帮忙分析是程序问题还是AT24C256问题

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 楼主| yuki774 发表于 2012-5-29 09:25 | 显示全部楼层 |阅读模式
现在产品在老化烤机的过程中,AT24C256内某些字节数据会发生突变为其它数据,
但又不是所有产品都这样,有10%~20%左右会有这种问题。

在老化烤机过程中,程序不会对AT24C256进行写操作,并且WP引脚置写保护。
数据发生突变后,程序还是正常运行,因为数据不会影响单片机正常运作。

大家帮忙分析一下,是程序跑飞进入写AT24C256模块,还是芯片有问题?
换过CAT24C256也一样。

会不会是电源引起的呢?用的是开关电源,并且前几天气温高的时候,出现的特别多。
ayb_ice 发表于 2012-5-29 09:47 | 显示全部楼层
这还不简单吗,老化前将EE拆下来,老化后,拿到通用编程器上读出来看看
 楼主| yuki774 发表于 2012-5-29 11:32 | 显示全部楼层
已经确认了有些芯片数据发生变化,
目前不能确定这些变化是怎么来的。
delin17 发表于 2012-5-29 11:34 | 显示全部楼层
把改变后的数据分析一下呗
 楼主| yuki774 发表于 2012-5-29 12:01 | 显示全部楼层
无规律的数据,
变化的几个字节是程序每10秒左右读一次的,
cgw116 发表于 2012-5-29 12:30 | 显示全部楼层
WP引脚置写保护?
那老化之后怎么写入AT24C256?
 楼主| yuki774 发表于 2012-5-29 13:37 | 显示全部楼层
老化过程中WP可以肯定写保护,
这个已经查过。
也不曾对AT24C256进行写操作
yudengyun 发表于 2012-5-29 13:45 | 显示全部楼层
这种情况我也遇到过,不知为什么里面的数据会改变
joyme 发表于 2012-5-29 14:24 | 显示全部楼层
1、老化过程中监控WP和I2C CLK管脚信号,看是否有干扰出现,或是程序进入写状态
2、如果不是1,可考虑监控电源是否有大的波动
 楼主| yuki774 发表于 2012-5-29 16:34 | 显示全部楼层
9楼提供的两个方法,如何实现监控?

数据出现改变是随机的,有时几天都不出现。
wukunshan 发表于 2012-5-29 17:23 | 显示全部楼层
可能是芯片质量问题。
yhyang_yjs1000 发表于 2012-5-30 09:27 | 显示全部楼层
已经确认了有些芯片数据发生变化,
目前不能确定这些变化是怎么来的
yhyang_yjs1000 发表于 2012-5-30 09:27 | 显示全部楼层
已经确认了有些芯片数据发生变化,
目前不能确定这些变化是怎么来的
joyme 发表于 2012-5-30 09:40 | 显示全部楼层
9楼提供的两个方法,如何实现监控?

用示波器监控WP脚,设置触发电平(你不是说正常老化不会写EEPROM吗?这样设置单次触发就好),另一个通道接SCL
 楼主| yuki774 发表于 2012-5-30 11:47 | 显示全部楼层
为什么其它的都一直不会出现这个问题呢?
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