STM32系列ARM Cortex-M3微控制器原理与实践
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书目
第一章 ARM Cortex-M3处理器概述
1.1 ARM处理器系列
1.1.1 命名规则
1.1.2 ARM处理器系列
1.2 ARM Cortex-M3处理器
1.2.1 处理器组件
1.2.2 Cortex-M3的层次和实现选项
1.2.3 处理器内核
1.2.4 嵌套向量中断控制器
1.2.5 总线矩阵
1.2.6 集成调试
1.2.7 可选组件
1.2.8 Cortex-M3处理器应用
1.3 Cortex-M3 Thumb-2指令集
1.4 Cortex-M3的优势
第二章 STM32系列微控制器
2.1 STM32系列微控制器简介
2.2 STM32F101
2.2.1 特点
2.2.2 系统结构
2.2.3 引脚描述
2.2.4 电气特征
2.3 STM32F103
2.3.1 特点
2.3.2 系统结构
2.3.3 引脚描述
2.3.4 电气特征
第三章 STM32系列微控制器存储器与外设
3.1 存储器和总线的结构
3.1.1 系统的结构
3.1.2 存储器结构
3.1.3 存储器映射
3.1.4 Boot设置
3.2 电源控制
3.2.1 电源供应
3.2.2 电源供应管理
3.2.3 低功耗模式
3.2.4 电源控制寄存器
3.3 复位和时钟控制
3.3.1 复位
3.3.2 时钟
3.3.3 RCC寄存器描述
3.4 通用输入/输出和备用输入/输出(GPIO 和AFIO)
3.4.1 GPIO功能描述
3.4.2 GPIO寄存器描述
3.4.3 备用功能输入/输出和调试配置 (AFIO)
3.4.4 AFIO寄存器描述
3.5 中断和事件
3.5.1 嵌套向量中断控制器（NVIC）
3.5.2 外部中断/事件控制器（EXTI）
3.5.3 EXTI寄存器
3.6 DMA控制器（DMA）
3.6.1 绪论
3.6.2 主要特性
3.6.3 功能描述
3.6.4 DMA寄存器
3.7 实时时钟（RTC）
3.7.1 绪论
3.7.2 主要特性
3.7.3 功能描述
3.7.4 RTC寄存器描述
3.8 备份寄存器（BKP）
3.8.1 绪论
3.8.2 特性
3.8.3 干扰检测
3.8.4 RTC校验
3.8.5 BKP寄存器描述
3.9 独立的看门狗
3.9.1 简介
3.9.2 IWDG 寄存器描述
3.10 视窗看门狗(WWDG)
3.10.1 介绍
3.10.2 主要特性
3.10.3 功能描述
3.10.4 如何编程看门狗的超时时间
3.10.5 调试模式
3.10.6 寄存器描述
3.11 高级控制定时器
3.11.1 介绍
3.11.2 主要特性
3.11.3 功能图
3.11.4 功能描述
3.11.5 TIM1寄存器描述
3.12 通用定时器(TIMx)
3.12.1 介绍
3.12.2 主要特性
3.12.3 功能图
3.12.4 功能描述
3.12.5 TIMx寄存器描述
3.13 控制器局域网(bxCAN)
3.13.1 导言
3.13.2 主要特性
3.13.3 概述
3.13.4 运行模式
3.13.5 功能描述
3.13.6 中断
3.13.7 寄存器访问保护
3.13.8 CAN寄存器描述
3.14 内部集成电路(I2C)接口
3.14.1 导言
3.14.2 主要特性
3.14.3 概述
3.14.4 功能性描述
3.14.5 中断请求
3.14.6 I2C寄存器描述
3.15 串行外设接口（SPI）
3.15.1 导言
3.15.2 主要特性
3.15.3 功能性描述
3.15.4 SPI寄存器描述
3.16 通用同步/异步收发机(USART)
3.16.1 导言
3.16.2 概述
3.16.3 中断请求
3.16.4 USART寄存器描述
3.17 USB全速设备接口（USB）
3.17.1 导言
3.17.2 主要特性
3.17.3 结构图
3.17.4 功能描述
3.17.5 编程约定
3.17.6 USB寄存器描述
3.18 模数转换器(ADC)
3.18.1 导言
3.18.2 主要特性
3.18.3 管脚描述
3.18.4 功能性描述
3.18.5 校准
3.18.6 数据排列
3.18.7 基于通道的可编程的采样时间
3.18.8 外部触发的转换
3.18.9 DMA请求
3.18.10 双ADC模式
3.18.11 温度传感器
3.18.12 中断
3.18.13 ADC寄存器描述
3.19 调试支持(DBG)
3.19.1 概要
3.19.2 相关的ARM文档
3.19.3 SWJ 调试端口(串行线和JTAG)
3.19.4 引脚输出线和调试端口引脚
3.19.5 STM32F10x JTAG TAP连接
3.19.6 ID 编码和锁定机制
3.19.7 JTAG 调试端口
3.19.8 SW调试端口
3.19.9 AHB-AP (AHB 访问端口) – 对JTAG-DP 和 SW-DP都有效
3.19.10 内核调试
3.19.11 在系统复位之下调试器主机连接的性能
3.19.12 FPB（Flash修补断点）
3.19.13 DWT（数据观察点触发器）
3.19.14 ITM（仪表跟踪宏单元）
3.19.15 MCU调试元件
3.19.16 TPIU（跟踪端口接口单元）
3.19.17 DBG寄存器
第四章 STM32固件库
4.1 固件库简介
4.1.1 STM32库的定义规则
4.1.2 STM32库的层次结构
4.1.3 库函数使用说明（只举例，完整的固件库放入光盘、或网站下载）
以定时器为例讲解怎么使用STM32固件库
第五章 STM32系列微控制器开发工具与应用
5.1 Keil MDK
5.1.1 概述
5.1.2 工程管理
5.1.3 编写、编译程序
5.1.4 调试程序
5.2 IAR EWARM
5.2.1 概述
5.2.2 EWARM集成开发环境及配套仿真器
5.2.3 在EWARM中生成一个新项目
5.2.4 编译和连接应用程序
5.2.5 用J-LINK调试应用程序
5.3 STM32_SK仿真、评估板
5.4 mx-Pro量产编程器
5.4.1 mx-Pro简介
5.4.2 mx-Pro使用过程说明
5.4.3 mx-Pro 命令说明
5.5 STM32F103实验板及Demo例程
5.5.1 硬件规格
5.5.2 软件配置
5.5.3 接口与跳线简介
5.5.4 地址空间分配
5.5.5 程序范例
5.5.6 关于ST ARM的常见问题
5.6 基于STM32F103的数据采集器
5.6.1 概述
5.6.2 功能描述
5.6.3 系统设计和实现
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