两三年的困惑，这两天基本澄清了。
是自己的时序问题。
以前的各种延时，都是根据手册自己确定的数值，
在网上找到一篇**，按他的时序重新写了一遍程序，延时也用他的数值。
新程序，无论是搜索总线上 ROM 码之后的 CRC 校验，还是读取温度以后的 CRC 校验，都能通过，没有通不过的情况，至少几十分钟都没有发现。以前可是经常出现的。
说“基本”，是因为手里只剩下一个批次的芯片，而这个批次用自己的程序不能通过 CRC 校验，用新程序就一切正常。
其他批次都采用折中方法（不做 CRC 校验）用完了，所以没法测试。
|
|
楼主
