紅外AD采样的问题

只看该作者 · 2011-11-1 21:36

unsigned int  Irq_Work2()

{unsigned short nVal1=0;

unsigned short nVal2=0;



  IR_ON();

        

        delay_us(1);

       // HW_ON();

          //ADC set

        PM2 |=0x40;

        ADM0  =        0x36; //adc work in High speed 1 mode, conversion time 8.25uS;

        ADCE  = 1;

        ADPC0 &= ~RF_ADC;

        ADS   =         INCH_6;

        ADIF  =         0;

       

        ADCS  = 1;

      delay_us(1); 

         while (!ADIF);

        delay_us(1); 

        nVal1 =         ADCR;       

        ADCS = 0; //Stop ADC

        ADCE = 0;  //Stop ADC V

        HW_ON();

        //ADM0  =        0x36; //adc work in High speed 1 mode, conversion time 8.25uS;

        ADCE  = 1;

     // ADPC0 &= ~RF_ADC;

       // ADS   =         INCH_6;

       delay_us(1);

       ADIF  =         0;

        ADCS  = 1;

         while (!ADIF);

         delay_us(1); 

        nVal2 =         ADCR;   

        ADM0         &=        ~0x81;     

        ADCS = 0;

        ADCE = 0;           

        HW_OFF();

        IR_OFF();

       if(nVal1 >= nVal2)

       {

         nVal2 = nVal1 - nVal2;

          return nVal2;

       }

       else

       {  

         return 0;

       }

}

在做红外ID采样用的芯片是 NEC的 78F0746自带ADC遇到的问题是在ADC采样寄存器和付给变量的值不相等。详细说明如下：

电路是红外发送和接收然后做AD采样首先的工作是红外不开启 TM_SDA给出高电平AD采样记录一个采样值然后开启红外发送管在记录一个采样值得出一个差值来进行判断现在遇到的问题是在进行第一步采用的时候 AD采样转换结果这个寄存器的值和付给变量的值不相等。
就是 ADCR 和nVal1这个值结果不一样。尝试的结果是在 TM_SDA给出高电平后要延时 100uS左右AD采样结构寄存器和付给的变量值才能一样。我的问题是如何能避免这个延时？