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[STM32H7]

【银杏科技ARM+FPGA双核心应用】STM32H7系列二十三——DAC

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楼主: heart蓝色CD
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181楼
芯路例程| | 2024-1-11 17:22 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览
我下载了一些资料，请收藏好

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182楼
digit0| | 2024-1-12 14:12 | 只看该作者
当我有时间的时候，我需要好好看看，这很好

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183楼
周半梅| | 2024-2-5 08:19 | 只看该作者

测试方法包括负载测试、静态测试和动态测试等

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184楼
Pulitzer| | 2024-2-5 09:22 | 只看该作者

还有另一种技术正在变得普遍

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185楼
童雨竹| | 2024-2-5 11:18 | 只看该作者

器件整合的再紧凑都无法发挥最大的效率

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186楼
Wordsworth| | 2024-2-5 12:21 | 只看该作者

达到抑制干扰的目的

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187楼
Clyde011| | 2024-2-5 13:24 | 只看该作者

在动态测试过程中，测试员需要改变测试负载的值和频率，

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188楼
万图| | 2024-2-5 15:20 | 只看该作者

共模电感的电感值可以用电桥来测量

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189楼
Uriah| | 2024-2-5 16:23 | 只看该作者

单层板不具有固定孔

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190楼
帛灿灿| | 2024-2-5 18:19 | 只看该作者

共模电感一个以铁氧体为磁芯的共模干扰抑制器件

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191楼
Bblythe| | 2024-2-5 19:22 | 只看该作者

通过缩回铜壳，可以保护电镀免受机械损坏。

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