在上一章节中我们介绍了RAM检测的实现方法,本章节我们将给大家介绍FLASH检测的实现方法。
测试Flash存储器完整性时,需要用到crc校验,在参考代码中我们使用了硬件的CRC单元,通过硬件CRC生成器完成的CRC计算大大降低CPU负载。
Flash存储器测试的范围由用户界定,在运行时,如果整个内存范围因测试时间太长而不能接受,用户可将其分成若干片段,Flash存储器测试范围由用户界定,我们需要对被测试区域进行动态修改,以便在那些区域单独执行测试。
检查区域的边界必须与测试中用到的多重测试块的大小一致。根据mm32_STLparam.h文件中定义的参数FLASH_BLOCK_WORDS,块大小默认设为16字( 64字节),检查中未使用的内存区域可通过预定义值来识别。
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