【CuriosityNano测评报告】+PIC18F16Q41 ADC测试内部温度传感器

只看该作者 · 2021-8-16 10:17

本帖最后由 pzsh 于 2021-9-13 13:23 编辑

今天我们测试下PIC18F16Q41的内部传感器~这个看起来简单，但是完全使用了ADC的各种功能及内部FLASH的读写及FVR的设置~
我们先看下DATASHEET里面温度传感器测试的描述：

我们看到，这里我们选择High Range的模式进行测量~
那么测量的条件是：
Vref=2.048,我们这里选择FVR来配置我们的参考电压：

温度传感器的计算：

我们发现需要gain 和 offset 两个值，我们可以从FLASH中读出它们的数值：

ADC我们决定配置成TMR外部触发：

其中对应ADC采样的计算模式，我们选择Burst Average:
这是一种多次采样后，取平均值的模式：

好了，我们下面通过MCC对上面的设置，进行配置：
选配置system module:

配置FVR module:

配置TMR module:

配置MEMORY module:

配置ADC module:

配置UART module:

配置GPIO module:

生成代码，然后对main.c进行修改(我们设置成每500ms查询一次)：

复制

#include "mcc_generated_files/mcc.h"



#define SetAcquisitionChannel(X) do { ADPCH = X; } while (0)

//Sets sampling channel of ADCC without starting conversion

/*

                         Main application

 */

void main(void)

{

    // Initialize the device

    SYSTEM_Initialize();



    // If using interrupts in PIC18 High/Low Priority Mode you need to enable the Global High and Low Interrupts

    // If using interrupts in PIC Mid-Range Compatibility Mode you need to enable the Global Interrupts

    // Use the following macros to:



    // Enable the Global Interrupts

    //INTERRUPT_GlobalInterruptEnable();



    // Disable the Global Interrupts

    //INTERRUPT_GlobalInterruptDisable();



    int16_t gain;

    int16_t offset;



    gain = FLASH_ReadWord(DIA_TSHR1);  

    offset = FLASH_ReadWord(DIA_TSHR3);



    INTERRUPT_GlobalInterruptEnable();

    uint16_t ADC_MEAS = 0;

    int24_t temp_c = 0;

    SetAcquisitionChannel(channel_Temp);

    

    while (1)

    {

        // Add your application code

        //asm ("SLEEP");

        //asm ("NOP");

        __delay_ms(500);

        ADC_MEAS = ADCC_GetConversionResult();

        temp_c = (int24_t) (ADC_MEAS) * gain;

        temp_c = temp_c / 256;

        temp_c = temp_c + offset;

        temp_c = temp_c / 10;

        printf("Device Temperature: %dC \r\n", temp_c);

    }

}