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PMOS过流保护

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楼主: nos001
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Pisces_Hades| | 2023-4-29 06:56 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览
LZ是有想法的,值得肯定。这个套电路本质上是检测输出MOS的饱和压降,有点类似desat。但功能实现和产品化还是有距离的。给你个提示:D6要反过来用,RC延时应该放在外侧而不是内侧的Q8,D6反相之后内部电路需要重新设计。为什么要这么设计相信你能想通的。

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cooldog123pp| | 2023-4-29 13:49 | 只看该作者
虽然我不是很明白,但是路过了就帮忙楼主顶贴一下,希望楼主问题早日解决。

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wanwenhao1| | 2023-5-6 20:37 | 只看该作者
nos001 发表于 2023-4-27 16:45
D6压降+M3压降,经R31、R30分压,调节R30即可调节保护电流的大小。

谢谢释疑,基本懂了。

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xmar| | 2023-5-7 10:34 | 只看该作者
这个电路的最大问题是PMOS管D、S之间的电阻随温度变化很大,不稳定。因此,导致过流保护电流阈值不确定,这是硬伤。还是用mR级电流取样电阻稳当。

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nos001|  楼主 | 2023-5-11 10:31 | 只看该作者
Pisces_Hades 发表于 2023-4-29 06:56
LZ是有想法的,值得肯定。这个套电路本质上是检测输出MOS的饱和压降,有点类似desat。但功能实现和产品化还 ...

D6如果反过来,设去除R30,保护三极管的Veb = M3导通压降 - D6压降,mos管M3的导通压降就得大于近似0.6+0.6 = 1.2V;设mos管导通电阻为20豪欧,那么最小保护电流 = 1.2/0.02 = 60A,这显然不是想要的设计结果。

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nos001|  楼主 | 2023-5-11 10:41 | 只看该作者
xmar 发表于 2023-5-7 10:34
这个电路的最大问题是PMOS管D、S之间的电阻随温度变化很大,不稳定。因此,导致过流保护电流阈值不确定,这 ...

其实主要目的还是短路保护,多数DC-DC芯片写的是限流电流,采用的就是检测PMOS导通压降,少数采用电流采用电阻。如果是分立件电路,采用采样电阻的缺点是占地方,同时增加了发热源和电源内阻。

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