本帖最后由 Peixu 于 2024-2-26 11:04 编辑
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在使用APM32F003微控制器进行ADC连续扫描功能时，我们可能会遇到一些IO口状态异常的问题，特别是在一些特定的引脚上。在本文中，将探讨这些问题的根源，并提出解决方案来优化系统性能。
在实际的应用中，我们经常需要使用ADC（模数转换器）来采集模拟信号，并根据这些信号来做出相应的控制和决策。而连续扫描模式是一种常见的ADC工作模式，它可以对一组模拟通道进行连续转换，从而实现对多个信号的高效采集。
然而，在使用APM32F003 MCU进行ADC连续扫描时，我们可能会观察到某些IO口状态异常的情况，特别是在PC4引脚上。这种异常表现为波形杂波的出现，影响了系统的稳定性和可靠性。
查看用户手册，连续扫描模式， 该模式用来对一组模拟通道进行连续转换,模拟通道组从AIN0到AINn, "n”通过配置ADC_CSTS寄存器的 CHSEL位来选择。
经过仔细的分析和研究，我们发现了这一现象的根源。在连续扫描模式下，MCU内部是从AIN0开始扫描到最后一个使用的AIN6通道。由于PC4引脚对应的模拟通道AIN2位于AIN6之前，因此PC4的状态会受到ADC连续扫描的影响，从而导致IO口状态异常。
例如我们用的是AIN3- AIN6, 但是MCU内部是从AIN0开始扫描到最后使用的一个AIN6的， PC4是AIN2, 在AIN6前面，所以会受影响， PC3是AIN7在AIN6后面， 所以不受影响。
针对这一问题，提出了以下两种解决方案：
解决方案：
1：更换引脚：
通过将ADC使用的引脚改成前三个通道AIN0、AIN1、AIN2，即PC4、PC5、PC6，将原本的PC4引脚替换为其他引脚。这样可以避免PC4受到ADC连续扫描的影响，从而解决IO口状态异常的问题。
2：使用单次触发方式：
另一种解决方案是改变ADC的工作方式，采用单次触发的方式。在这种方式下，我们可以采集完一个通道的值后，立即重新初始化另外一个通道，依次循环。这样可以有效地避免连续扫描模式带来的IO口状态异常问题，提高系统的稳定性和可靠性。
综上所述，针对APM32F003 MCU中ADC连续扫描功能对IO口状态的影响问题，提出了两种解决方案：更换引脚和使用单次触发方式。选择合适的解决方案可以有效地优化系统性能，确保系统的稳定运行。
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