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AT-START-L021开发板为了便于用户扩展存储空间，在开发板上特意配备了一个供外挂存储器件的接口J7，其提供的引脚资源如图1所示。 图1 外挂接口
为了对W25Q系列的存储器件进行测试，便选取了一个W25Q16的存储模块来进行连接，其引脚连接关系为： CS ---PB12 CLK---PB13 DO ---PB14 DI ---PB15 TX1---PA9
图2 实物连接
相应的测试主程序为： int main(void)
{
__IO uint32_t index = 0;
__IO uint32_t flash_id_index = 0;
system_clock_config();
at32_board_init();
tx_data_fill();
uart_print_init(115200);
spiflash_init();
flash_id_index = spiflash_read_id();
if((flash_id_index != W25Q128)&&(flash_id_index != W25Q80)&&(flash_id_index != W25Q16)&&(flash_id_index != W25Q32)&&(flash_id_index != W25Q64))
{
printf("flash id check error!\r\n");
for(index = 0; index < 50; index++)
{
at32_led_toggle(LED2);
at32_led_toggle(LED3);
delay_ms(200);
}
return 1;
}
else
{
printf("flash id check success! id: %x\r\n", flash_id_index);
}
/* erase sector */
spiflash_sector_erase(FLASH_TEST_ADDR / SPIF_SECTOR_SIZE);
/* write data */
spiflash_write(tx_buffer, FLASH_TEST_ADDR, BUF_SIZE);
/* read data */
spiflash_read(rx_buffer, FLASH_TEST_ADDR, BUF_SIZE);
/* printf read data */
printf("Read Data: ");
for(index = 0; index < BUF_SIZE; index++)
{
printf("%x ", rx_buffer[index]);
}
/* test result:the data check */
transfer_status = buffer_compare(rx_buffer, tx_buffer, BUF_SIZE);
/* test result indicate:if SUCCESS ,led2 lights */
if(transfer_status == SUCCESS)
{
printf("\r\nflash data read write success!\r\n");
at32_led_on(LED2);
}
else
{
printf("\r\nflash data read write ERROR!\r\n");
at32_led_off(LED2);
}
while(1)
{
}
}
经程序的编译与下载，其测试结果如图3所示，说明测试成功。 由测试程序及结果可以看出，其处理过程为： 首先进行spiflash的初始化，随后是读取芯片的ID并显示，再对测试扇区进行擦除。在完成扇区擦除后，先是写入256个字节的数据，再将其读出以供验证，并以LED2和串口给出判别结果，即LED2亮表示成功；LED2灭表示设备。 图3 测试结果
但说好的256个数据咋输出了怎么多呢？ 通过对数据量的计算可知： 256+256=512+86=598 原来编写程序这位老兄错把256写成 0x256，正好0x256=598，通过查看相应的定义也确实是这样，即：#define BUF_SIZE 0x256
进行修改后，其测试结果如图4所示，这才是常规的预期结果。 图4 测试效果
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