21ic电子技术开发论坛 › 单片机与嵌入式系统 › Microchip › 微芯的MCU中，12位差分模数转换器（ADC）的自动平均功能 ...
12
返回列表 发新帖我要提问

[PIC®/AVR®/dsPIC®产品] 微芯的MCU中，12位差分模数转换器（ADC）的自动平均功能是如何实现的？

[复制链接]
1170|22
永久冻结 发表于 2026-6-28 13:56 | 显示全部楼层
微芯 MCU 的 12 位差分 ADC 自动平均通过硬件连续采集多次差分信号，内置累加器求和后自动右移实现均值计算，无需 CPU 干预。可配置 4/8/16/32 次平均，抑制共模干扰与随机噪声，提升小信号精度。差分输入抵消地噪与温漂，硬件平均降低 CPU 开销，让采样更稳定。
回复

收藏 举报

mintspring 发表于 2026-7-21 17:48 | 显示全部楼层
微芯 PIC/dsPIC/AVR 系列带计算单元 ADCC的 12 位差分 SAR ADC，自动平均是硬件全自主完成，无需 CPU 循环读取、软件累加，差分模式仅改变模拟采样通道，数字平均逻辑完全共用。
回复

收藏 举报

蝶弄美人簪 发表于 2026-7-29 16:42 | 显示全部楼层
芯片硬件内置采样累加寄存器，无需 CPU 干预。开启自动平均后，ADC 连续多次差分采样，硬件自动累加转换结果，采样完成后硬件除法输出均值。可配置采样次数，过滤电磁噪声、电压毛刺，差分输入抑制共模干扰，大幅提升微弱信号精度，减少软件滤波占用定时器与运算资源。
回复

收藏 举报

12
返回列表 发新帖
高级模式
B Color Image Link Quote Code Smilies
您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

快速回复 在线客服 返回列表 返回顶部
0