[PIC®/AVR®/dsPIC®产品] ADC 平均模式如何提升传感器数据精度?

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又见春光 发表于 2026-8-14 14:40 | 显示全部楼层
ADC 硬件平均模式由硬件完成多次采样累加平均,降低 CPU 开销。可压制高频随机噪声、电磁干扰与 ADC 量化噪声,减小采样跳动,输出更平稳原始数据。该模式会增加转换耗时,牺牲部分采样速率。需合理设置采样次数,权衡精度与采样速度,以此提升传感器采集数据的可靠性与测量精度。
少女诗篇 发表于 2026-8-26 10:44 | 显示全部楼层
ADC 平均模式通过硬件连续多次采样,对结果累加求平均,减少随机噪声干扰。硬件自动完成采样累加,无需 CPU 多次读取。高频噪声会在多次采样中正负抵消,有效降低采样抖动,提升有效分辨率。需权衡采样点数,点数越大精度越高,但会降低采样速率。适合温度、压力等变化缓慢的传感器,兼顾噪声抑制与采集效率。
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