3.3V 转 1.8V 给 HC32L 内核供电，ADC 基准漂移

发表于 2026-8-9 16:45

多次采样后剔除极值取滑动均值，抵消剩余的随机漂移误差，进一步提升采样稳定性。

发表于 2026-8-10 12:48

在固件中加入中值滤波或滑动平均滤波等算法，可以有效滤除高频噪声和随机跳动

发表于 2026-8-10 14:53

在HC32L的VREFP引脚严格按照手册要求焊接0.1μF NPO陶瓷电容+10μF低ESR钽电容，滤除基准路径的高低频纹波。

发表于 2026-8-11 11:16

ADC 不是在测一个绝对电压，而是拿输入电压和参考电压做比较。如果给 ADC 模拟部分供电的 VDDA 本身不稳，ADC 结果一定会跟着跳。

发表于 2026-8-11 14:36

温度补偿算法在ADC校准中的应用案例？

发表于 2026-8-11 16:25

内核从低功耗休眠唤醒瞬间，1.8V电源出现快速电压跌落，内部带隙基准来不及稳定，ADC采样瞬间出现漂移。

发表于 2026-8-12 11:32

内部基准引脚缺少就近低 ESR 电容，电源纹波直接叠加在参考电压上，采样持续跳变、温漂明显。

发表于 2026-8-12 19:41

分两路LDO供电，ADC基准用外部低噪声基准，内核用内部基准，降低噪声干扰。

发表于 2026-8-13 12:51

在电路中，通过在模拟地和数字地之间使用低通滤波器或电容进行单点接地，以减少噪声干扰。

发表于 2026-8-13 11:58

分开供电，ADC基准选高精度外部基准，LDO选择低噪声类型，看波形排除电源干扰。

发表于 2026-8-14 10:28

试试使用LC滤波器，减少电源纹波；分立LDO供电，隔离内核和ADC基准，看能否稳定。

发表于 2026-8-14 11:42

分两路LDO供电，ADC基准用独立电源，模拟地和数字地单点接地，降低噪声干扰。

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