[数据转换器-信号链] 关于DAC输出重复性的疑问

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 楼主| 发表于 2013-1-15 14:40 | 显示全部楼层 |阅读模式
拿DAC7512来举例,200H这一点输出的LE误差大约为4LSB(正),请问在不考虑温度和参考电压变化的前提下,多次上电或者是长期使用后,200H这一点输出的LE误差可不可能变化为-4LSB(负)?诚请专家指教!!!


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发表于 2013-1-15 21:44 | 显示全部楼层
我觉得, 这也许只是一个典型特性, 不能保证不同的器件都是这样的特性. 这跟内部电路有关.
针对某个器件真好是上图这个特性, 200H这一点输出的LE误差大约为4LSB(正),那么上电或者是长期使用后,从 DAC 的原理看, 200H这一点输出的LE误差变化为-4LSB(负)的可能性不大.
 楼主| 发表于 2013-1-16 13:44 | 显示全部楼层
我的意思就是特定某个器件的某一点的LE误差在长期范围内的变化对于输出稳定性的影响。某一点的LE误差在正负4LSB范围内变化,并没有超出手册规范,但是对于输出稳定性就有较大影响。
我的应用对于DAC的INL和DNL指标要求都不是太高(线性度和单调性要求都不是太高),但是对于输出稳定性却有很高的要求,简单的说就是DAC收到某个特定值,输出电压在多次上电和长期使用后都能保持绝对电压的一致性。
发表于 2013-1-16 15:06 | 显示全部楼层
我从 图2. 的 Resistor String 的原理, 推测那些量化误差主要由这些电阻差异引起的.
由于这些电阻出在相同的环境. 如果一次测量到 200H这一点输出的LE误差为4LSB(正),那么应该都是正的. 值可能会有些变化.
当然换一片 IC, 由于这些电阻不同了, 那么是可以任何的其他误差
 楼主| 发表于 2013-1-16 16:42 | 显示全部楼层
同意你的解释。感谢!
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