TEST PIN是不是也要接高或者接地么？

发表于 2015-9-21 20:17

在用JTAG download MSP430F2132 的程序的时候，显示错误Fatal error：Could not find device(or device not supported) Session aborted!
可是TDO, TDI, TMS, TCK我都有连上啊，看了下SPEC，说有TEST/SBWTCK: Selects test mode for JTAG pins on Port1. The device protection fuse is connected to test.
请问这个TEST PIN是不是也要接高或者接地么？

发表于 2015-9-21 20:17

用错了吧

发表于 2015-9-21 20:17

而P1.4/SMCLK/TCK的描述是：General-purpose digital I/O
SMCLK signal output
Test Clock input for device programming and test
感觉P1.4/SMCLK/TCK这PIN又不像是JTAG 的TCK了！

发表于 2015-9-21 20:18

TCK是JTAG用的 TEST是在SBW模式和BSL模式下使用的。

发表于 2015-9-21 20:18

有没有TI的FET430-UIF？可以换一个仿真器试试

发表于 2015-9-21 20:19

我也遇到这个问题,经咨询开发板卖家解决了,我用的是usb -FET造成这个问题的原因是IAR的版本太低,不能自动识别f2132的JTAG是4线还是2线造成的

发表于 2015-9-21 20:19

那咋整？

发表于 2015-9-21 20:19

升级高版本,升级后可以自动识别

发表于 2015-9-21 20:19

手动设置也行

发表于 2015-9-21 20:20

咋设置

发表于 2015-9-21 20:20

IAR-project-options-general options选MSP430F2132 然后debugger 选FETdebugger; 在FET debugger 下面的Debugger protocol下的override default打勾,选取4-wire JTAG确定后就行了.

发表于 2015-9-21 20:20

嗯，经试验证实并口仿真器由于Debugger protocol为灰色不可选,不能使用.

发表于 2015-9-21 20:21

嗯，知道了，多谢啊

发表于 2015-9-25 14:16

我用的是usb -FET造成这个问题的原因是IAR的版本太低,不能自动识别f2132的JTAG

这个是版本越高越好用吗，现在最高是几版本了

发表于 2015-9-25 16:02

IAR-project-options-general options选MSP430F2132 然后debugger 选FETdebugger; 在FET debugger 下面的Debugger protocol下的override default打勾,选取4-wire JTAG确定后就行了.

楼主这种方法可行吗，后来怎么解决的

TEST PIN是不是也要接高或者接地么？

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