CMOS器件失效后恢复合格状态原因求助

发表于 2018-3-13 13:40

最近在对一款CMOS元器件做检测过程中发现输入端漏电流轻微超值失效，在元器件放置几天后重新检测，输入漏电居然合格了。找不到这种现象的原因，请教各位高手解释理论一下。谢谢！
（检测设备，检测程序，检测环境均没有发生变化）

发表于 2018-3-13 15:23

“检测设备，检测程序，检测环境均没有发生变化”
检测室温、湿度确定没有变化？

发表于 2018-3-13 23:15

对于高阻抗输入器件，测试方法和设备非常讲究，甚至对湿度都有要求，而元器件对温度也可能存在敏感性，故每次测试务必保证测试条件的严格一致，否则测试结果很可能没有意义。