抗扰性能

发表于 2018-7-3 18:18

用交流接触器中的线圈两端各引出一根线
然后一根接到零线上
另一根绕上几个圈后放到MCU上面
然后用这根线的线头去触碰火线
由此引入干扰
可以测测单片机以及周边电路的抗扰性能

发表于 2018-7-3 18:21

还有什么现象？能再详细描述下吗？

发表于 2018-7-3 18:24

我比较过两种电路：
一种是DIP的，由于陶振靠的比较近，而且频率不高，几十KHZ吧，基本上能绕三圈也不出问题吧
另一种是贴片的，80个引脚（引脚间距是0.3mm），陶振离得比较远，8MHZ，所以基本上一圈貌似都不行

所以希望大家可以提提意见，看看怎么样才能使单片机运行得更稳定呢？

发表于 2018-7-3 18:26

如果不是有特别的寄存器设置那么声明为XDATA就够了看一下器件手册
另外板子也需要检查一下

发表于 2018-7-3 18:28

可以测布线是否合理，程序设计是否合理问题，但毕竟这程测试方法是拿不出台面的东西

发表于 2018-7-3 18:30

楼上能不能给出些比较具体的数据呢？
比如说单面板打正面的话基本上可以扛几圈？
打背面的话又能扛几圈？

发表于 2018-7-3 18:33

打双面板的话情况又是什么样的？
又是如何改善这些情况的？

发表于 2018-7-3 18:35

这个其实是群脉冲测试

发表于 2018-7-3 18:38

群脉冲只是其中的一种干扰源，这个一般至少还伴随着强烈的电火花干扰源，如果你再绕成几圈的话，还等效出一定的断续工作电流环路效果

发表于 2018-7-3 18:40

嗯，我们都知道，断续工作的电流环路往往都伴随着电磁场的交变

发表于 2018-7-3 18:44

所以，这也是一种干扰源。

发表于 2018-7-3 18:46

一般是电源引入的。

发表于 2018-7-3 18:49

多用点心思到电源会有意想不到的结果。

发表于 2018-7-3 18:52

其实还是不大明白，我再琢磨琢磨吧，多谢了哈，结贴了先