【银杏科技ARM+FPGA双核心应用】STM32H7系列二十三——DAC

发表于 2024-1-11 17:22

我下载了一些资料，请收藏好

发表于 2024-1-12 14:12

当我有时间的时候，我需要好好看看，这很好

发表于 2024-2-5 08:19

测试方法包括负载测试、静态测试和动态测试等

发表于 2024-2-5 09:22

还有另一种技术正在变得普遍

发表于 2024-2-5 11:18

器件整合的再紧凑都无法发挥最大的效率

发表于 2024-2-5 12:21

达到抑制干扰的目的

发表于 2024-2-5 13:24

在动态测试过程中，测试员需要改变测试负载的值和频率，

发表于 2024-2-5 15:20

共模电感的电感值可以用电桥来测量

发表于 2024-2-5 16:23

单层板不具有固定孔

发表于 2024-2-5 18:19

共模电感一个以铁氧体为磁芯的共模干扰抑制器件

发表于 2024-2-5 19:22

通过缩回铜壳，可以保护电镀免受机械损坏。

[STM32H7] 【银杏科技ARM+FPGA双核心应用】STM32H7系列二十三——DAC