stm8s单片机外部晶振易受干扰

发表于 2015-6-12 09:15

请教21的各位前辈们，我现在遇到一个问题
制作的产品使用的是stm8s105，使用外部晶振，但是在实际测试过程中发现部分单片机程序会停跑或者运行缓慢，但是用红外这类中断可以让设备恢复并继续按正常时序工作。
而出现该问题的板子，当用万用表测量晶振引脚电压或者示波器测量晶振引脚波形的时候，MCU就重启。
有一块故障板子经过5天左右的测试以及老化之后，外部晶振失效。
现在程序改为内部高速时钟在测试，暂时未发现故障现象。
该种故障概率大概在10%。
不知道各位前辈有没有遇到过此类问题，求指导。

发表于 2015-6-12 09:42

这没啥说的，外部精体质量差，换好的

[STM8] stm8s单片机外部晶振易受干扰

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