闩锁效应

原罪 · 发表于 2016-7-13 22:53

在使用HCT14时，只使用到其中的两个门，由于其余输入端未使用，当时就悬空处理了，后来在调试过程中器件失效，开盖分析发现电源的键合丝熔断，地线的键合丝也熔断了，找人分析说是闩锁效应所致。在网上也看了些闩锁效应的**，但是没有搞明白为什么CMOS的输入脚悬空会激励闩锁效应。请高人指点，最好能详细一点。谢谢。

山东电子小菜鸟 · 发表于 2016-7-13 22:56

引脚悬空本来就是最忌讳的一件事情，你可以简单的理解为外界EMI会影响你的内部结构

玄德 · 发表于 2016-7-14 14:05

输入引脚是高阻态，
很敏感。

qzlbwang · 发表于 2016-7-25 11:23

CMOS电路，若输入端电压超出电源范围就容易产生“闩锁”。悬空的话就很容易满足“闩锁”条件。

xmar · 发表于 2016-7-25 11:33

楼主HCT14损坏恐怕不是啥闩锁效应所致， AC220V市电漏电、静电导致损坏可能性更大。现代成熟商品IC几乎没有“闩锁效应”了。除非上个世纪的IC或者自己流片不成熟的IC有可能发生闩锁效应。

marshallemon · 发表于 2016-7-25 14:03

xmar 发表于 2016-7-25 11:33
楼主HCT14损坏恐怕不是啥闩锁效应所致， AC220V市电漏电、静电导致损坏可能性更大。现代成熟商品IC几乎没有 ...

闩锁在OP中仍然存在

[电路分析] 闩锁效应

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