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IC封装不良率高达10%

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 楼主| long109tou 发表于 2013-6-25 10:17 | 显示全部楼层 |阅读模式
封装, IC封装, ic
45Wic，封装成测发现不良率到达10%，其中7%左右是由于连接性不良引起的，请教一下，这么高的不良率这是什么引起的啊


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 楼主| long109tou 发表于 2013-6-25 18:17 | 显示全部楼层
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 楼主| long109tou 发表于 2013-6-28 18:23 | 显示全部楼层
怎么没有人回帖呀？
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jlass 发表于 2013-7-1 10:47 | 显示全部楼层
其中7%左右是由于连接性不良引起的

你自己都找到问题了，还有什么可说的
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 楼主| long109tou 发表于 2013-7-1 15:32 | 显示全部楼层
jlass 发表于 2013-7-1 10:47
其中7%左右是由于连接性不良引起的

你自己都找到问题了，还有什么可说的 ...

就是说，是什么原因引起的?要分析根本原因哟！
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jlass 发表于 2013-7-2 14:54 | 显示全部楼层
long109tou 发表于 2013-7-1 15:32
就是说，是什么原因引起的?要分析根本原因哟！

竟然是无满意答案结贴，真是浪费我的心情。
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