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调试28335ADC问题

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 楼主| xxdjx0206 发表于 2014-5-20 19:35 | 显示全部楼层 |阅读模式
ADC, 调试, se, ADCc, ST
使用TI  Example_2823xAdcSeqModeTest.c 例程进行调试，晶振使用的是20M
1、AdcRegs.ADCCHSELSEQ1.bit.CONV00 = 0x0;这句程序没有，A0通道也有数据
2、AdcRegs.ADCCHSELSEQ1.bit.CONV00 = 0x0;配置好这句，给该通道2V电压，观测到采样数据比较有周期的跳变，但是值与理论值相差太多，还有0值。

请问各位DSP大侠帮忙分析下，是什么原因引起的。
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zhangmangui 发表于 2014-5-20 22:15 | 显示全部楼层
使能了ADC   AdcRegs.ADCCHSELSEQ1.bit.CONV00是不是默认为0呢
不会跳变这么大吧   你再检查一下时钟使能  还有别的配置是否合理
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 楼主| xxdjx0206 发表于 2014-5-20 22:22 | 显示全部楼层
   AdcRegs.ADCREFSEL.bit.REF_SEL=0x0;
   AdcRegs.ADCTRL1.bit.ACQ_PS = 0xa;//ADC_SHCLK;
   AdcRegs.ADCTRL3.bit.ADCCLKPS = 0x1;//ADC_CKPS;
   AdcRegs.ADCTRL1.bit.SEQ_CASC = 1;        // 1  Cascaded mode
   AdcRegs.ADCCHSELSEQ1.bit.CONV00 = 0x0;
   AdcRegs.ADCTRL1.bit.CONT_RUN = 1;       // Setup continuous run
   AdcRegs.ADCMAXCONV.bit.MAX_CONV1=0;

   // Start SEQ1
   AdcRegs.ADCTRL2.all = 0x2000;
以上是ADC的配置。另ADC时钟也使能了，只是我用的是20M晶振，在系统内倍频后再分频的，数据一直在跳变。谢谢！
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 楼主| xxdjx0206 发表于 2014-5-20 22:24 | 显示全部楼层
版主，能不能加你QQ呢
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pinda_ 发表于 2014-5-21 00:28 | 显示全部楼层
:lol我之前搞是通过外接AD转接芯片，通过SPI口做成功的。。。没用那AD，测量过，好像会不太精确。
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