在嵌入式系统中，对于简单的IO作为输出使用时，因为IO的电流输出能力（拉电流和灌电流）在MCU的规格书中都会有一定的限制。我有个疑问就是：当以如下图IO口作为普通GPIO使用时，与IO相关的负载输出有如下疑问，还请论坛的大神能深入讲解一下：
一、当IO输出“1“时，若负载电阻相对较小（以Vdd/Rload大于该IO可输出电流能力时），会产生什么影响？
是不是A点正常高电平输出应该约等于Vdd（如+5V），实际可能输出是A点电平会较Vdd相差较大？因为规格书中并没有推挽输出导通时Vce的电压（或等效电阻），这个是不是就很难去计算具体应该是多少？
已经超过IO的输出能力，如何评估对MCU的IO可靠性影响呢？若类似以用GPIO简单模式IIC驱动一个EEPROM，偶尔会在某个电平切换时间会出现这样一个短暂时间（约几us）这种情况，对实际IIC通讯没有多大影响，会对MCU造成很大影响么？
二、以“一”反向讨论，当IO外部所接的负载是一个上拉到Vdd的负载时，当该负载电阻相对较小（以Vdd/Rload大于该IO可输出电流能力时）超过了MCU的灌电流能力，又会产生什么影响呢？如何评估这种短暂的过载对芯片的影响呢？
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