JTAG(Joint Test Action Group)接口是一种广泛应用于集成电路测试和调试的标准,其引脚定义主要包括以下几个关键信号:
TCK (Test Clock):
这是JTAG接口的时钟信号,所有的TAP控制器操作都依据TCK的边沿进行。所有的数据和状态转移都在TCK的上升沿或下降沿(取决于具体实现)上进行。
TMS (Test Mode Select):
这个信号决定了TAP控制器的状态迁移。每个TCK时钟周期,TMS信号的状态都会影响下一个状态的切换,进而控制整个JTAG测试访问端口(TAP)的状态机行为。
TDI (Test Data In):
串行数据输入引脚,用于向JTAG寄存器栈(如指令寄存器IR和数据寄存器DR)输入数据或指令。
TDO (Test Data Out):
串行数据输出引脚,用于从JTAG寄存器栈读取数据或状态信息。
*TRST (Test Reset, 可选)**:
测试复位信号,低电平有效,用于复位JTAG TAP控制器到初始状态。并非所有JTAG接口都包含此引脚,有些设计中TAP状态机的复位可以通过特定的TMS序列来实现。
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