请教 单片机内部AD的阻抗

用分压法做一个测电阻（1K-300k)的电路，分压电阻10K
单片机主频16M，采用内置的AD(10位），AD模块的采样速率与主频有关，所以不可能降的太低。
如果AD连续采集的话，发现阻抗比较低，对电路影响大。
加个运放的话，又要求是轨对轨输入输出
各位大神，请教了，这个怎么弄。。

加个电压跟随不行吗

实在不行，搞个分辨率大点的

加个电压跟随的话，不仅多了一个OP，并且还要求这个OP是输入输出RAIL - RAIL.。。

所以比较麻烦。。。

你用的什么单片机？手册上怎么说

STM8, 采样速率与主频有关，分频值最大时采样速率也比较高

查了说是采样速度越大，阻抗越小

你的采样频率多少啊。其实从稳定的角度看，还是加一个电压跟随器比较好。

如果是做产品，应该加个电压跟随。用不用轨对轨那看你的测量电阻的范围了，你这个电路感觉不用轨对轨也可以呀。

不用运放的,分压出来,AD上并个1uf电容再采
另外"如果AD连续采集的话，发现阻抗比较低，对电路影响大"这句话不是很理解,你怎么知道阻抗比较低呢?直接表象是什么呢?

用运放的话，运放电压与单片机内部AD的参考电压是一样的，所以如果检测电阻范围比较大的话，轨对轨是要的，不过可以把运放电压提高。。。

如果不用运放：  MCU主频16M，AD频率 分频 /128  即 125k  ， 一个点10个周期，差不多12KSam/s  , 对于产品还来很高了，有个500Sam/s 其实都可以了。

如果AD连续采集的话，发现阻抗比较低，对电路影响大  

AD的结果偏差比较大，特别是所测电阻比较小的时候，用万用表测电压也与理论的分压公式有偏差。，加个运放就好多了，就是会产生饱和。。。

1，如果单片机AD的内阻很小，以致于影响到你的测量精度，那么你可以改变10K的值，比如降低它。
2，你对1k-300k的电阻测量分辨精度是多少，如果不需要太精细的话，可以不实用轨对轨的运放。
3，如果你对精度要求很高的话，建议你分区间段测试电阻，就像智能外用表一样，自适应量程，从而保证在宽量程范围内，都能有很高的精度。

SAR ADC采样频率越高，等效内阻越小。实际上这是一个平均值，输入电流是脉冲性的。
在采样阶段，内部开关打开，对内部电容充电，转换阶段输入开关断开，不吸收电流。
因此，要降低内阻的影响，可：
1.增加采样时间
2.输入端并电容
3.降低采样频率。

garin223 发表于 2013-4-10 15:24
1，如果单片机AD的内阻很小，以致于影响到你的测量精度，那么你可以改变10K的值，比如降低它。
2，你对1k-3 ...

1. 单片机内阻应该不算太小，可能100K的样子，10K的值，是根据测试温度（-45 - 80），每变化一度对应AD变化多少算出来的。至少得保证每变化一度有2个AD的变化 。
2. 测温精度正负1度，对应每变化一度至少有2个AD的变化
3. 分区段算是好的方法，如果下次做高精度的话。

谢谢您的回复

567 发表于 2013-4-10 20:40
SAR ADC采样频率越高，等效内阻越小。实际上这是一个平均值，输入电流是脉冲性的。
在采样阶段，内部开关打 ...

首先谢谢您的回复

1. 增加采样时间，每个数据的采样时间是一定的（跟主频与分频因子有关，已经设为最小的）。是否换成单次采样 ，采样完了延时多少个周期，再开始采样，这样是否可以增加采样时间？？
2. 输入端并电容，这个方法比较好，0.1UF 的怎么样？？、
3. 采样频率已经最低了，但还是很高，内置的AD不像  C个妈D偶  弄AD可以把采样频率降很低。

我建议你看看SAR型ADC的内部结构和原理，自然会明白