前几天在社区QQ群里有个小伙伴在找使用RAM进行debug的设置,论坛有很多这样的例子和教程,我写了个demo在NUCLEO-L476RG上测试下,给需要的同学。之所以要选择在ram中调试,很重要的原因是考虑到Flash的寿命问题,因为每次下载程序都要进行Flash的擦除,如果次数多了可能会导致Flash有问题,但是MCU内的Flash的擦写次数普遍可以达到上万次,所以说几乎不可能因为调试程序次数太多把Flash搞坏掉,如果真能把Flash擦除坏,那肯定能成为高手了。 L476RG内部有2个SRAM,一个是SARM1,我们用作flash,一个是SRAM2,我们用作sarm。
根据上面的内存分配,相应的keil的设置如下:
然后从keil的安装目录下复制Dbg_RAM.ini文件用于初始化调试信息及设置中断向量表,内容如下:/*----------------------------------------------------------------------------
Setup() configure PC & SP for RAM Debug
*----------------------------------------------------------------------------*/
FUNC void Setup (void) {
SP = _RDWORD(0x20000000); // Setup Stack Pointer
PC = _RDWORD(0x20000004); // Setup Program Counter
_WDWORD(0xE000ED08, 0x20000000); // Setup Vector Table Offset Register
}
LOAD %L INCREMENTAL // load the application
Setup(); // Setup for Running
g, main
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