你的 “C2大更容易起振” 的理论在我这里得不到肯定，见下图的仿真。
这是一个10MHz CC负阻振荡器的仿真，其从开路电感上端向电路内看去的端口阻抗Zin存在负阻。
这个仿真有意去掉了C2，即C2=0 pf，去实现满足振荡判据的仿真。如果仿真成功，说明你说的理论无效。
仿真图的上部曲线是S'21和GD。仿真判据是：S'21=0dB，GD<0。可见仿真满足判据（GD是以群延时代表的相位斜率，GD<0对应相位斜率>0）。
仿真图的下部曲线是输入回路的净阻Rnet。可见Rnet<0（虚部=0）。Rnet<0与GD<0是对应的，即，有GD<0，就有Rnet<0，因此可以没有Rnet仿真。
分析：为什么你说的理论失效？
为实现适当的Zin负阻，电路的器件参数和每一个元件参数对负阻的产生和大小都有影响。例如，在C2=0下，这个仿真只调节了C3和C1的参数就使Zin产生了负阻（C3从1nf减小到 357 pf，C1从 726 pf 增大到 1235 pf），并使仿真满足了判据。我在实践中也碰到过C2=0下电路振荡的情况。
我的仿真包含了所有元器件的贡献，因此只需要关注振荡器指标下（例如VCO带宽）满足判据（全频带满足），就可以保证可靠的起振，而无需考虑其他条件，例如个别元件的比例条件。
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楼主
