3000V的脉冲群下死机,系统是这样的,stm32组成的测控系统,有机箱,机箱也结了地,stm32组成的测控系统是浮地,整个系统有两个接线端子引出,一位是地,一位是采样端子。stm32和采样端是共地的。
测试时快速脉冲群的负极接机壳,快速脉冲群打地时系统回显有跳变,但不死机。打采样端子时stm32死机。
改造如下,采样端的电源串入磁珠,stm32的每个电源除了0.1uF的退耦电容外,另外增加0.01uF的电容,信号采样端对机壳接0.01uf的安规电容。这几项对抗干扰性有提高,但不能彻底解决。请提供更好的解决办法 |