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[电路分析]

紧急求助,各位大神看看这个电路是什么问题?

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楼主: wanyhong
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ddxx| | 2021-10-18 15:01 | 只看该作者 |只看大图 回帖奖励 |倒序浏览
bendn 发表于 2021-10-18 11:24
会不会AO3401的G极没有串接电阻,下管对AO3401的控制信号直连的G极,如果下管打开特别快的话,因为AO3401的 ...

应该是这个原因,可以将R4改为100K,然后在GD之间串联10K电阻就可以了。

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bendn| | 2021-10-18 15:20 | 只看该作者
我又仔细分析了一下,感觉更可能是Q2控制Q1,使得Q1导通过快,MOS管的导通电流变化过快,进而在MOS管的寄生电感上面产生很大的感抗,形成振荡电路,最后出现高压击穿MOS,改进的措施还是在Q1的G极上面串接一个小电阻,或者在Q1的G极和S极接上一个小电容,使得MOS开启缓慢一些减弱振荡。

因为你这个电路没有高负载的地方,所以应该不是发热引起的损坏,更像是产生的高压损坏,高压损坏在你这个电路这里只能是振荡引起。

然后你这个Q1打开慢一些无所谓,交叉损耗很小,不像是电源的开关控制,那种的电流很大,打开太慢的话,开关交叉损耗就会很大,会出现热损坏

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lfc315| | 2021-10-18 15:48 | 只看该作者
不知道都是怎么计算的,导通太快引起损坏都出来了;
R7是10k,开关速度能快到哪里去哦

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bendn| | 2021-10-18 17:05 | 只看该作者
lfc315 发表于 2021-10-18 15:48
不知道都是怎么计算的,导通太快引起损坏都出来了;
R7是10k,开关速度能快到哪里去哦 ...

你先看仔细明白了说的是啥再回复吧,我说的是Q1导通太快,不是Q2,你看不到Q1的G极是用MOS直接导通到地的?

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bendn| | 2021-10-18 17:17 | 只看该作者
一事无成就是我 发表于 2021-10-18 14:47
都是大神,还红箭头标注电流方向,冒烟输出短路,除非你用膝盖头想的,PMOS输出短路100%冒烟,放大状态 ...

能不能好好组织一下语言啊,都看不懂你想说什么,你要是知道原因的话,就好好说出来分析过程让其他人审视,如果确实有道理大家也可以学习提高,莫名其妙的说一个不知所云的原因,这难道是你做研发工作的态度?如果你觉得太简单不屑于帮别人解惑呢,那就请不要乱发言在这里秀存在感

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st.you| | 2021-10-18 17:57 | 只看该作者
Q1的漏极对地短路了,管子吹下来,先不着急换新的上去,万用表测一下Q1漏极焊盘对地是不是直通或者阻抗很小。

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wanyhong|  楼主 | 2021-10-18 19:38 | 只看该作者
bendn 发表于 2021-10-18 15:20
我又仔细分析了一下,感觉更可能是Q2控制Q1,使得Q1导通过快,MOS管的导通电流变化过快,进而在MOS管的寄生 ...

感谢,我明天再按照你的思路验证一下

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lyjian| | 2021-10-18 19:40 | 只看该作者
除非脚位错了或焊短路了,要不然10K的电阻,不管怎样都不会烧。

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lyjian| | 2021-10-18 19:43 | 只看该作者
bendn 发表于 2021-10-18 12:27
而且因为米勒电容的存在,Q1在导通的过程中,还会出现这样一个电流通路,也就是Q1的D、S之间电流刚刚达到最 ...

pF级的寄生电容要想冲坏这个MOS,实在太太太不容易了。

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lyjian| | 2021-10-18 19:44 | 只看该作者
智能diy 发表于 2021-10-18 10:42
感觉是Q2导通不完全,导致Q1也导通不完全,排除静电击穿,一般静电击穿不冒烟。感觉R8应该去除。 ...

再怎么不导通,连接的是几十K级的负载,它也不会坏

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bendn| | 2021-10-19 09:05 | 只看该作者
king5555 发表于 2021-10-18 23:49
电池两端不是6V,充电器输出带有突波20V以上,不是静电。我高职毕业生。

哪怕是小学毕业,只要能真的分析出原因来,都是值得大家学习的,毕竟知识不分学历高低。

你说的这个充电器冲击不知道实际损坏过程中有没有用到,需要楼主确认一下

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lfc315| | 2021-10-19 09:09 | 只看该作者
bendn 发表于 2021-10-18 17:05
你先看仔细明白了说的是啥再回复吧,我说的是Q1导通太快,不是Q2,你看不到Q1的G极是用MOS直接导通到地的 ...

Q2速度都受限了,Q1还能快到哪里去。。。
难道火车厢比火车头跑得更快

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bendn| | 2021-10-19 09:10 | 只看该作者
lyjian 发表于 2021-10-18 19:43
pF级的寄生电容要想冲坏这个MOS,实在太太太不容易了。

所以需要验证,前面我是想的会不会每次冲击对G极的绝缘层有一些影响,多次电流冲击累加后引起绝缘层击穿,但是后面想的更可能是振荡冲击,Q1打开的过程中,冲击电流在其自身寄生电感上产生高压电动势,目前我能想到的除了这个原因,实在想不出还有哪里能引起高压。毕竟如果不考虑电感只考虑三个寄生电容的简单模型,那就只有冲击电流才能损坏MOS。

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bendn| | 2021-10-19 09:37 | 只看该作者
lfc315 发表于 2021-10-19 09:09
Q2速度都受限了,Q1还能快到哪里去。。。
难道火车厢比火车头跑得更快

感觉不是这么简单的对应,MOS管导通的全过程是下面这张图,实际Q2处于t2~t3这段时间才是真正对Q1的控制时间,这段时间Q2应该是处于可变电阻区的,只要电阻小到与上拉电阻R4=10K分压一定值就可以打开Q1,所以实际Q1受控开启的时间应该是远小于Q2的受控开启时间

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lfc315| | 2021-10-19 09:43 | 只看该作者
bendn 发表于 2021-10-19 09:37
感觉不是这么简单的对应,MOS管导通的全过程是下面这张图,实际Q2处于t2~t3这段时间才是真正对Q1的控制时 ...

Q2逐渐开通的时候,不是也是逐渐对Q1的G-S电容充电的过程吗,Q1的导通速度当然受限于Q2的导通速度吧?

“如果下管打开特别快的话,因为AO3401的G、S之间存在寄生电容,就会形成这样一个瞬时的大电流通路,是不是就可能引起G极的绝缘层损伤,多次冲击过后就可能引起绝缘层击穿彻底短路”

大电流引起绝缘层损伤,你上面这个说法源自于哪里?我去研究研究

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bendn| | 2021-10-19 10:56 | 只看该作者
本帖最后由 bendn 于 2021-10-19 10:58 编辑
lfc315 发表于 2021-10-19 09:43
Q2逐渐开通的时候,不是也是逐渐对Q1的G-S电容充电的过程吗,Q1的导通速度当然受限于Q2的导通速度吧?

...

Q1打开速度受限于Q2没错,但也只体现在t2~t3阶段,这个阶段Q2的D、S极才会开始出现电压变化,而电压变化的这个阶段,就是打开Q1的阶段

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bendn| | 2021-10-19 11:01 | 只看该作者
lfc315 发表于 2021-10-19 09:43
Q2逐渐开通的时候,不是也是逐渐对Q1的G-S电容充电的过程吗,Q1的导通速度当然受限于Q2的导通速度吧?

...

这个大电流引起绝缘层损伤只是我根据之前遇到现象的推测,正常来讲G极是有一层绝缘层,与D、S极的电阻很大,一般是十几甚至几十MΩ级别,但是我遇到过一些工作状态异常的MOS管,G极与D、S极的电阻变成了几KΩ,所以有这么个猜测

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记得诚| | 2021-10-26 22:27 | 只看该作者
楼主,这个问题有答案了吗?

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wanyhong|  楼主 | 2021-10-28 08:53 | 只看该作者
记得诚 发表于 2021-10-26 22:27
楼主,这个问题有答案了吗?

看我评分的三个

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xch| | 2021-11-9 19:06 | 只看该作者
没冒烟状态Q1烫手吗?

没冒烟状态测量Q1工作电流等于多少?

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