STM32f103 四通道做ADC采样，采样结果异常

发表于 2024-1-6 22:58

增大采样间隔时间可以减轻这种现象。

发表于 2024-1-7 21:15

检查所有输入信号是否都已正确连接，避免浮空状态，因为这会导致读取到的电压值不确定。

发表于 2024-1-7 21:41

所有通道的模拟输入引脚配置正确，并且没有短路或开路情况

发表于 2024-1-7 21:52

ADC采样频率过高可能导致转换精度下降

发表于 2024-1-7 22:12

检查读取到的数值是否超出ADC的可表示范围

发表于 2024-1-8 18:27

如果采样时间太短，可能会导致ADC结果不准确

发表于 2024-1-9 16:51

检查ADCCLK（ADC时钟）频率是否超过最大允许值，适当降低采样频率可以提高转换精度。

发表于 2024-1-9 17:06

ADC模块的参考电压需要与输入信号相匹配，否则会导致采样结果异常

发表于 2024-1-9 19:18

在多通道ADC采样中，使用DMA（直接内存访问）可以减轻CPU负担，但若配置不当，首次采集的数据可能无效。

发表于 2024-1-10 10:01

如果ADC采样结果异常可能是由外部设备引起

发表于 2024-1-10 12:59

受到数字地和模拟地分割不当造成的噪声影响

发表于 2024-1-10 15:54

校准不正常可能会导致读数不准确。

发表于 2024-1-10 16:49

使用ADC_SoftwareStartConvCmd()函数启动ADC转换，并等待转换完成。

发表于 2024-1-10 20:04

DC使用的GPIO引脚已正确配置为模拟输入模式

发表于 2024-1-10 21:19

多通道采样时，若通道之间没有足够的隔离，相互之间的干扰可能导致采样结果异常。

发表于 2024-1-11 11:36

首先，使用万用表来验证语句

发表于 2024-1-11 11:39

验证ADC初始化代码，确保正确设置了ADC的工作模式（独立/扫描模式）、采样时间、分频因子、触发源等参数。

发表于 2024-1-11 12:22

检查ADC驱动代码是否正确设置了所有相关参数

发表于 2024-1-11 17:17

至于硬件，我们最终不是都要测量电压吗

发表于 2024-1-11 20:11

参考电压正确配置，如通过0欧电阻连接VREF+与VDDA，避免由于分压导致的测量偏差。

[STM32F1] STM32f103 四通道做ADC采样，采样结果异常