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[通用 MCU]

如何处理MCU在ADC采样时IO出现的毛刺问题

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楼主: Burnon_FAE_1
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21楼
地瓜patch| | 2024-12-2 23:06 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览
星辰大海不退缩 发表于 2024-9-25 19:27
要对 ADC 采样结果进行适当的软件滤波处理

先低通滤波

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22楼
suncat0504| | 2024-12-10 22:02 | 只看该作者
对于某个通道连续采样的，中间的数据，是不是干扰会少一些，会更准确一些？

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23楼
AutoMotor| | 2025-1-22 06:19 | 只看该作者
建议做好电路设计，比如地线布局:保证地线布局合理，降低地线噪声。

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24楼
AIsignel| | 2025-1-22 15:47 | 只看该作者
数字滤波仍然是一个好方法

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25楼
Burnon_FAE_3| | 2025-1-23 09:32 | 只看该作者
学习了，谢谢。

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26楼
未来AI| | 2025-1-24 20:37 | 只看该作者
周围的电磁环境可能会干扰io端口。

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