为了模拟 EEPROM 功能,通常会将 Flash 存储的一个区域划分为 EEPROM 存储区域,并使用特定的算法来模拟写入和擦除行为。一个常见的做法是使用环形缓冲区或者写入新数据后标记过期数据,防止频繁擦写导致的 Flash 过早损坏。
EEPROM 模拟算法
环形缓冲区:为模拟 EEPROM,我们可以为 Flash 存储区域划定一个固定大小的“EEPROM”区域,然后通过轮替方式存储数据。当 EEPROM 空间满时,可以覆盖最旧的数据。
标记过期数据:每次写入新数据时,可以在 Flash 中为每个数据块添加一个有效性标记(如 CRC 校验、时间戳等),在读取数据时判断其有效性。
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