MCU在高精度ADC信号采集中的误差控制理解分享

发表于 2025-3-10 08:15

ADC误差包括内部误差、温度影响和外部电路设计问题。这些因素都会影响ADC的精度和稳定性。

发表于 2025-3-11 13:04

在电路板上放电源引脚附近的去耦电容很重要。

发表于 2025-3-14 13:47

温度变化对ADC的精度影响很大，特别是那些没有温度补偿的ADC。

发表于 2025-3-16 08:18

校准ADC就像给尺子量个标准，让测量更准确，运行中就能做。

发表于 2025-3-16 13:07

多次采样平均能降低噪声，提升测量准确度。

发表于 2025-3-17 21:29

多次低速采样像拼图，噪声干扰少，精度和速度两不误。

发表于 2025-3-19 14:45

这些误差是电路设计中的常见问题，分别指输出随输入线性变化的偏差、累积偏差、初始值偏差和放大倍数偏差。

发表于 2025-3-21 14:41

选高品质元件，加滤波电路，降低噪声干扰。

发表于 2025-3-27 16:15

温度变化会导致参考电压的不稳定

发表于 2025-3-31 15:52

对于高速 ADC，采样时间过长可能导致高频噪声对采样值的影响增加

发表于 2025-4-2 20:00

在电源脚旁放个电容，选对电容位置也对效果很重要。

发表于 2025-4-6 11:22

微分误差反映输入变化的速度，积分误差与输入变化的总和有关，偏移误差是静态误差，增益误差影响系统放大倍数。

发表于 2025-4-7 17:03

温漂对ADC采集影响挺大的，那实际应用中，温度补偿具体怎么操作呢

发表于 2025-4-7 19:01

非线性误差校正用多项式拟合和神经网络，那具体怎么选择呢

发表于 2025-4-7 21:42

多次采样取平均，就像用多个小数点拼出大数，误差自然小

发表于 2025-4-11 15:43

如果直接使用DMA的方式，怎么来量化这些指标呢？

发表于 2025-4-16 07:36

ADC的误差包括外部噪声干扰，内部自身误差等因素。

发表于 2025-4-16 10:45

ADC分辨率有限，产生误差，这误差不能完全消失，但能尽量减小。

发表于 2025-4-16 23:05

温度波动会让未校准的ADC精度变差。

发表于 2025-4-18 20:45

做好屏蔽和接地，就像给电路穿件防干扰的衣服，外部干扰就不容易影响它了。

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