[其他] 在边缘存储场景中,如何通过存储介质的创新,提高存储设备的耐用性和可靠性?

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Carmen7 发表于 2025-8-31 09:05 | 显示全部楼层 |阅读模式
在边缘存储场景中,如何通过存储介质的创新,提高存储设备的耐用性和可靠性?

across往事 发表于 2025-9-11 11:02 | 显示全部楼层
采用新型存储介质,如英韧科技洞庭 - N3X 系列 SSD 采用的 KIOXIA XL-FLASH,这是一种介于 HBM/DDR 和 FLASH 之间的新型存储介质,能够有效支撑边缘节点进行高密度数据处理,满足实时 AI 推理需求。
Betty1299 发表于 2025-9-11 12:52 | 显示全部楼层
可探索如光存储、磁电阻存储等新型存储介质,利用其特性提高存储密度和访问速度,为边缘存储提供更稳定、高效的存储支持。
Carina卡 发表于 2025-9-11 14:10 | 显示全部楼层
优化闪存管理算法,佰维 EP410 BGA SSD 通过自研的闪存管理算法,搭配动态带宽分配技术,表现出卓越的带宽稳定性。
MercuryStar 发表于 2025-9-11 15:57 | 显示全部楼层
可以采用 DRAM - less 架构与智能温度管理技术,以及自研 LDPC、动静态均匀磨损坏块管理、坏块管理等技术,大幅提升了数据的完整性与安全性,确保设备长时间稳定运行。
Alina艾 发表于 2025-9-11 16:15 | 显示全部楼层
应用先进封装工艺,例如佰维 EP410 BGA SSD 采用最高 16 层叠 Die、40μm 超薄 Die 等先进封装工艺,在减小体积的同时,提升了电气性能,使其能处理更大的数据吞吐量,并且通过全面的测试流程,验证其 MTBF 大于 1,500,000 小时,适应 0℃-70℃的温度环境,保障了设备的可靠性。
alxd 发表于 2025-9-11 18:02 | 显示全部楼层
增强错误处理机制,使用原生 TLC 模式时,SSD 可以达到 5,000 次以上的 P/E 周期,而在 pSLC 模式下,则可以达到 10 万次以上。当 NAND 闪存接近使用寿命终结时,实施强大的错误处理机制对于减少错误并维持数据完整性至关重要,如英韧科技洞庭 - N3X 系列 SSD 采用的第三代 4K LDPC ECC 技术,可有效保障数据的可靠性。
Belle1257 发表于 2025-9-12 19:51 | 显示全部楼层
支持掉电保护等功能,如英韧科技洞庭 - N3X 系列 SSD 支持掉电保护(PLP)、端到端数据保护和多种数据加密机制等,这些功能可以在电源出现异常时保护数据的完整性,防止数据丢失或损坏,同时也能有效保护数据的安全性,进一步提高了存储设备在边缘存储场景中的可靠性。
Charlene沙 发表于 2025-9-12 08:36 | 显示全部楼层
一般就增加纠错管理,估计能提升可靠性吧
Espoironenext 发表于 2025-9-12 11:33 | 显示全部楼层
其实可以加个备用电源,这样局可靠性就大大提升了吧
vevive 发表于 2025-9-12 15:19 | 显示全部楼层
一般来说可以改变存储介质呢?是不是可以啊
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