ADC采样偶尔跳变，怀疑参考电压不稳但测不出问题

发表于 2025-11-17 18:45

在信号源与 ADC 之间串联运算放大器

发表于 2025-11-17 20:07

STM32 ADC 内部有采样电容，采样时需要快速给电容充电到信号电压。若信号源内阻 >1kΩ，充电速度会变慢，采样窗口内电容未充到稳定值，可能因干扰导致电压跳变

发表于 2025-11-17 21:05

未校准ADC导致偏移误差，突发噪声未被抑制

发表于 2025-11-17 22:16

用 “单次转换模式”+“软件触发”：每次采样前，确保信号稳定，再触发 ADC 转换，避免连续采样时的干扰累积

发表于 2025-11-18 20:54

使用屏蔽双绞线传输模拟信号，屏蔽层单端接地

发表于 2025-11-18 22:20

优化 PCB 模拟地隔离与输入布线

发表于 2025-11-19 08:12

检查 ADC 输入引脚的走线

发表于 2025-11-19 09:20

传感器供电稳定，避免电源噪声耦合到信号中。

发表于 2025-11-19 10:21

在传感器输出端添加低通滤波器

发表于 2025-11-19 11:47

信号传输线可能耦合了高频噪声、地弹、串扰

发表于 2025-11-19 12:08

在PCB上分割模拟地和数字地，通过单点接地连接。

发表于 2025-11-19 13:37

取最近 N 次采样值的平均值，N 越大，滤波效果越好，但响应速度越慢

发表于 2025-11-19 14:27

模拟地与数字地未有效隔离，或模拟信号线与数字信号线平行走线过长，导致串扰。

发表于 2025-11-19 15:23

VREF 和电源稳定，说明 ADC 内部基准无问题，跳变大概率来自模拟信号输入侧的瞬时干扰或链路缺陷

发表于 2025-11-19 16:25

单次转换模式可能因触发时机不当引入噪声；连续转换模式若未正确配置DMA，可能因中断处理延迟导致数据跳动。

发表于 2025-11-19 17:29

添加软件滤波

发表于 2025-11-21 12:41

每次 ADC 初始化后，调用 HAL 库的 HAL_ADCEx_Calibration_Start() 函数，抵消内部偏移误差

[STM32F3] ADC采样偶尔跳变，怀疑参考电压不稳但测不出问题