STM32G4 ADC参考电压不稳问题

发表于 2026-6-14 12:06

采用内部 2.5V VREFBUF 并在 VDDA 引脚就近布置 0.1μF + 1μF 去耦电容

发表于 2026-6-14 12:45

VDDA供电噪声的致命影响

发表于 2026-6-14 13:14

模拟信号布线对ADC采集精度的影响

发表于 2026-6-14 13:37

ADC校准。加上后精度

发表于 2026-6-14 15:44

VDD再稳也稳不过内部带隙，因为带隙是物理特性决定的，不受电源影响。

发表于 2026-6-14 16:07

优先使用内部精密基准，避免依赖外部电源

发表于 2026-6-14 16:23

VDDA与数字电源通过磁珠或RC滤波隔离，避免数字开关噪声耦合到模拟电路。

发表于 2026-6-14 17:21

在VDDA引脚旁并联0.1μF陶瓷电容和1μF电解电容，抑制电源纹波

发表于 2026-6-14 17:33

即使参考电压稳定，ADC采样仍受量化噪声、热噪声影响，通过过采样和平均滤波可进一步降低误差

发表于 2026-6-14 17:53

对过采样后的数据进行多次采样平均，进一步平滑随机噪声

发表于 2026-6-15 19:42

引入精密基准与电源去耦

发表于 2026-6-15 21:09

利用 VREFINT 动态补偿算法

发表于 2026-6-15 21:21

VDD纹波直接变成采样误差

发表于 2026-6-15 22:15

温度漂移下ADC补偿算法实现方式

发表于 2026-7-17 12:01

内部Vref校准通过调整内部参考电压，提升精度。技巧包括多次测量取平均值、校准温度补偿、优化ADC设置。

发表于 2026-6-17 17:44

内部2.5V基准不错，记得检查内部温度传感器配置，温度影响也可能导致漂移。

发表于 2026-7-21 13:44

通过调整Vref引脚电阻值，实现Vrefint内部校准，可提升精度。注意选择高精度电阻，并考虑温度影响。

发表于 2026-6-18 11:00

ADC应用的第一大坑——用VDD当参考电压。

发表于 2026-6-19 20:45

高温可能会让内部基准电压略微变动，低温环境下则更稳定，需实际测量评估影响程度。

发表于 2026-6-19 23:00

STM32G4 ADC过采样率优化，首先确定所需精度，然后根据精度选择合适的过采样率，如128x、256x等，同时考虑CPU负载。

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