闭锁现象可以造成直接的显而易见的损害,或长时期的影响系统可靠性。当电流通过CMOS器件的衬底时,会在反向的寄生双极性晶体管(如SCR)上触发一种自激传导电压轨,这时就会产生闭锁现象。在这个过程中电流将持续的增大直到器件的损坏或电源电压下降。如果一个电源给一个器件供电,则在第二个器件没有被完全供电之前将会产生反向电流流入或流出第二个器件,这时将会产生触发电流。如果在所有器件都供电完毕后,输入端的电压大于或小于电压轨上的电压,系统同样会触发一个闭锁。有记载双向I/O端口也可能是系统产生故障的一个原因。 当处理器和支撑的外围设备(如存储器或数据变换器)不是由同一电源供电时,就可能存在的闭锁现象。而总线冲突一般发生在多个器件在供电过程中同时试图控制双向总线时,进而会影响I/O的可靠性。晶体管在某种未知的状态下将会产生一种从输入电压轨到接地之间的“隐蔽”路径,在类似这种不良条件下数字器件将会产生更大的瞬间起峰电流,进而造成瞬间的损害或长期影响系统的可靠性。最近,FPGA 和DSP制造商及已经改进了保护电路来减少这种闭锁现象、总线冲突和类似的晶体管不良状态。 针对上文所述问题,下面列出了一些简而易行的电源设计方案对系统进行进一步的保护。第一,确保所有与处理器I/O总线相连接的逻辑外围设备由同样的电压轨供电,该电压轨同时为处理器的I/O供电。第二,确保每个电压轨的转换器控制在一个指定的误差范围内,该范围包括整体输入电压和瞬时过程中负载的变化范围。该系列**的第二部分对此做了更详细的介绍。第三,确保所有电压轨的供电电压在相对较短的时间(一般小于等于100 ms)里是单调,或是同时供电,这样启动时电压轨间的意外时间误差将会减到最小。 |