我设计的一个模块，出厂之前需要一次调试过程，出厂后到正式使用场合这个调试功能被屏蔽掉。里面主控是一块带DAC输出的MCU.
这个调试过程大概是这样的：烧写MCU完成之后，由PC与MCU通信，控制dac输出
在一定范围内变化，这个变化会引起整个模块输出的变化，模块输出的变化反馈到PC机，然后由PC找到最佳模块输出值（这个值是确定的），找到此时对应的dac输出值。
我的想法是：预先在MCU的flash里设置一块规模不大的表格，MCU预置这样一个功能让dac输出按照这个表格变化（最大预设100个点，实际变化只需要50个点左右就够），PC与MCU通信，启动这一功能，同时PC接收反馈的模块输出值（与dac输出值肯定是一一对应的了），找到最合适的模块输出值的位置，就可以找到最合适的dac输出值。
其他同事提出另一个想法：让MCU完全在PC控制下工作，每一次PC控制MCU，让dac输出一个值，pc得到对应反馈的模块输出值，并判断与最佳输出（确定的）相差多远，相差远则增大调整步长，近则用较小的调整步长；按照这个步长再调整dac的输出，再一次得到模块输出值，作判断。。。如此循环，直到达到模块最佳输出值，此时对应的dac输出值即是最合适的。
我觉得我的想法通用性更好，而同事的想法可能要求更高的“智能性”，也要求更多的循环和中断；如果在一致性较好的情况下，我的想法可能更容易实现；而同事的想法可能需要更多的资源。不知道我对此的判断是否有道理？
3x！
//bow
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