ocon 发表于 2013-6-7 18:52 ![]()
不管是两个低耐压触点串联还是单个高耐压触点，分断的过程中，触点间距都是由0变为最大值，串联的两个触 ...
嗯，你分析的是有道理的。
你可以做一些实验，让继电器在额定的电流，电压下。串联继电器，测试其可靠性，我相信你会发现它和高压继电器的不同地方。
另外：
1，当继电器一组触点断开的时候，由于另一组不同步，导致这一组断开的时候，两端产生的电压会使触点空气击穿，这样触点会被氧化，甚至溶化。虽然另一组会很快断开，但是如果空气击穿的话，对于另一组来说，它切断的电流和第一组是一样的。这样的话两组触点串联后形成的电压将会更高。但是正如你所说，这种状态会很快由于两组断开而各自分担一部分。但是，空气击穿概率会大大增加，从而影响你的继电器寿命。
2,"双触点通过机械联动，串联后，分断时触点间距加倍，应该可以提高分断耐压" 分断时触点间距不是加倍，比如说：
pin4和pin5短接，那么pin3,pin6之间间距不一定比pin3~pin4之间间距加倍。从电气角度上来说，两组触点单单串联使用要慎重，在要求不高的情况下可以尝试。 |
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