运放反向输入端加调零电路的疑问

2万 · 2014-8-1 23:44

lymex 您没见过国标GB3442吧？运放所有的参数都是在闭环状态下测试的

不好意思，我不看国标，主要看TI/ADI，BB，凌特等的数据手册，和IEEE标准。
难以想象在芯片研发处于世界下游的，被欧美牵着鼻子走的，能制定什么标准。

只看该作者 · 2014-8-2 00:06

xukun977 发表于 2014-8-1 23:44
lymex 您没见过国标GB3442吧？运放所有的参数都是在闭环状态下测试的

国标也是照抄国外的，关键是运放所有的参数都是在闭环状态下测试的。

“运放的不少参数，都是在开环状态下测试的，比如开环增益，输出阻抗，差动输入电阻，差动输入电容等。”
这就是来自所谓 TI/ADI，BB，凌特等的数据手册，和IEEE标准？

2万 · 2014-8-2 10:41

lymex 发表于 2014-8-2 00:06
国标也是照抄国外的，关键是运放所有的参数都是在闭环状态下测试的。

“运放的不少参数， ...

你不是半导体行业的，跟你聊这个太累。
1.你所说的国标中包含了多少项测试指标？工业标准OP IC要测试多少项指标？对比后你还敢说"关键是运放/所有/的参数都是。。。"吗？把所有二字换成大多数是不是更合适？
2.关于你所说的国标。
现在是公元2014年，你那个上个世纪80年代国标，是不是老掉牙了？当然了，你喜欢收集老古董仪器，可能是性格缘故。
我差看了下，所谓的国标中给了10多种指标测试方法，这些方法在当时可能很流行，很经典，但现在可以进博物馆了，要想知道现在怎么测的，欢迎来我们这参观，无锡许多中小公司都是在我们这测的，他们买不起或不愿意投资千万买这些仪器。

2万 · 2014-8-2 10:48

3.上个世纪80年代， IC OP已经超过2000多types，国标给的那个电路，根本不可能适用于真么多电压OP的测试。现在不但是国外，国内的每个公司都有其测试方法，貌似还要搞保密。

只看该作者 · 2014-8-2 10:55

xukun977 发表于 2014-8-2 10:41
你不是半导体行业的，跟你聊这个太累。
1.你所说的国标中包含了多少项测试指标？工业标准OP IC要测试多少 ...

既然你认为很多参数都是开环状态下测试的，请给出具体标准，否则就是空口。
我说的“运放所有的参数都是在闭环状态下测试的”，是指GB3442，除非能找到替代的，否则这就是现行标准。

看到“开环增益”，马上就联想到是开环测试的？Vos的意义如果都搞不清楚，岂不做了仪器的奴隶？

2万 · 2014-8-2 11:11

lymex 发表于 2014-8-2 10:55
既然你认为很多参数都是开环状态下测试的，请给出具体标准，否则就是空口。
我说的“运放所有的参数都是 ...

我对失调的理解，不会太差，下面是皮毛性定义，估计不少人没看过:

https://bbs.21ic.com/icview-734514-1-1.html

不管是做带隙，LDO，OPA，PLL，ADC/DAC等，都要跟失调打交道。

只看该作者 · 2014-8-2 11:26

xukun977 发表于 2014-8-2 11:11
我对失调的理解，不会太差，下面是皮毛性定义，估计不少人没看过:

https://bbs.21ic.com/icview-734514-1 ...

Vos的定义早就有，无需开贴重复。
回到Vos问题上来，请回答：Vos到底是不是客观存在于运放正负输入端？
如果回答是，那我不再追问什么了。
如果回答仍然是否？那你对我前面的质疑怎么沉默不做声了？

2万 · 2014-8-2 11:37

lymex 发表于 2014-8-2 11:26
Vos的定义早就有，无需开贴重复。
回到Vos问题上来，请回答：Vos到底是不是客观存在于运放正负输入端？
...

"客观存在"，是什么意思？

如果是马克思哲学中的那个定义，我回答NO

只看该作者 · 2014-8-2 11:42

xukun977 发表于 2014-8-2 11:37
"客观存在"，是什么意思？

如果是马克思哲学中的那个定义，我回答NO

这涉及Vos的测量问题。既然你说我给出的GB3442方法不适用，那么请问现行的测试Vos的方法是什么？

2万 · 2014-8-2 13:00

lymex 不要拿保密来掩盖不了解和理解错误

像HP那样的实力公司以前都公布原理图，国内不是这样玩保密？:
我说错了？

只看该作者 · 2014-8-2 13:14

xukun977 发表于 2014-8-2 10:41
你不是半导体行业的，跟你聊这个太累。
...

对Vos理解错误，不能自圆其说，我的质疑回答也不是，不回答也不是，能不累吗？

对Vos的定义就不明白，更不了解Vos的测试方法，我怎么解释也没有用，我也累。

1万 · 2014-8-2 13:29

哈哈，我只能哈哈哈。
第一个问题：
等效就是等效。而不是相等。运放的正输入和负输入也是等效连接的，就是传说中的虚短。因此接R1,在滑动变阻器上寻求一个电压值使得R1电压等效于接地就是这个运放的正输入，这样就实现了理论上的虚短。也就是等效于连接到了正向输入。
第二个问题，你说的加法，确实是加法，通过这个加法，加个正的数字或者负的数字来达到纠正偏差的目的，也就是减少失调带来的偏差。

1万 · 2014-8-2 13:35

你用最基本的理论和定义就很好理解这个问题了，别听上面的几个家伙在那里瞎扯，看多了他们的乱扯，你会更糊涂。

只看该作者 · 2014-8-2 13:53

在这里多谢大家的指教,我对这个问题有了更深的理解,尤其要多谢 lymex, 他的耐心指点

2万 · 2014-8-2 14:10

gaoyang9992006 发表于 2014-8-2 13:35
你用最基本的理论和定义就很好理解这个问题了，别听上面的几个家伙在那里瞎扯，看多了他们的乱扯，你会更糊 ...

高大侠你不抓紧去写书，又跑来灌水了。
别说2年，给你5年也够呛，根据经验，预计时间*2.5=实际时间。大蚂蚁电源就符合这个公式。

1万 · 2014-8-2 14:40

xukun977 发表于 2014-8-2 14:10
高大侠你不抓紧去写书，又跑来灌水了。
别说2年，给你5年也够呛，根据经验，预计时间*2.5=实际时间。大 ...

:lol不要嘲笑。我是不会让你们看笑话的。

2万 · 2014-8-2 20:32

gaoyang9992006 发表于 2014-8-2 14:40
不要嘲笑。我是不会让你们看笑话的。

1
你要写本<月子>，我就写本<伺候月子>。

实话实说，研究生刚毕业，是不可能写书的，起码专业从事模拟电路设计(搞单片机不算)5年以上，起码啃几本专著，精读50~100篇论文，泛读200篇左右论文，然后才可能写书。

你53楼理解有误！这个电路貌似是AD率先用的，数据手册上有这个电路图。
R1上电压不是你理解那样，它是通过R1灌入最大为V/R1的电流，该电流乘以Rf//Ri得到补偿电压，通过调节电位器，使补偿电压等于运放初始失调电压，就实现了offset nulling。

2万 · 2014-8-2 20:50

GavinZ 发表于 2014-7-31 23:01
我大概明白lymex的意思了。
针对vos和ib分别进行补偿，才能做到不受外围参数影响，比如信号源内阻不确定时 ...

怎么可能发生这种理想情形？话说的太绝对了。
假设初始失调彻底补偿好了，再假设这个运放的CMRR是常用的100dB左右，倘若输入共模电压变动1V(不过分吧？)，那么失调电压立马由0变成10uV，这里才仅仅考虑个CMRR而已！

只看该作者 · 2014-8-2 20:59

xukun977 发表于 2014-8-1 20:07
失调电压/电流，两者本身就是**生蛋，蛋生**的关系，无法清晰剥离，所以不应该把它们看成独立量。

这话难道是从一个搞半导体工程者口里说出来的？

要说工程方法，首先必须遵循现行标准，其次对具体问题必须拿出可行的办法。

2万 · 2014-8-2 21:24

lymex 发表于 2014-8-2 20:59
这话难道是从一个搞半导体工程者口里说出来的？

要说工程方法，首先必须遵循现行标准，其次对具体问题必 ...

什么时候需要标准？
有没有国标规定国民一天上几趟厕所？有没有国标规定公民一天吃几顿饭？

为什么没有？因为不需要！

工程方法亦是如此。
而且工程方法，越是大人物用的，越"吊儿郎当"，不严肃。具体见EDN大牛威廉姆斯主编的模拟电路设计，里面有许多大牛自我介绍他们是如何设计电路的。

运放有工业标准，包络可靠性能，寿命测试在150度至少168小时。ESD指标，封装和引脚排列。工作温度范围，等。
客户关心的有:免震荡;容忍一定的负载电容，至少90dB开环增益，轨道轨输出，宽电源电压等。

所以商用的芯片，基本就是厂商和客户两方面的事，跟国标关系不大。
我们以前用的不是GB，而是GJB，严格的很。这里不谈。

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