两位的讨论，肯定让读过这个帖子的人受益匪浅的。这比那一堆放置上“精品”标志的帖子有营养的多。
我觉得两位的分歧存在误解。
1，vos存在的客观性
我理解的lymex所说的客观是指，vos物理性存在，且产生于输入级。
而xukun认为“lymex认为‘仅仅’产生于输入级”是不够准确的，我觉得xukun的意思是“vos一定物理性存在，但不仅仅有输入级产生，还有其它环节”，所以vos分析时，仅仅是建模于输入端。
我的理解：我不懂基础电路，和你们一样，不会否认vos的物理性存在，但我主观倾向于相信xukun的说法，毕竟他是专业内的人，所以我认为vos是reference to input，也就是RTI vos是数学等效概念，不能认为vos仅仅产生于输入端。
2，我认为vos还是闭环测量好，因为感觉上实现起来容易，况且也可以把误差因素降低到接受范围，当然，可能存在那种运放，它的vos和ib对于测试电路的权衡（vos和ib同时存在，导致它俩互相影响）带来困难。但是，我觉得运放在设计出来后，vos和ib的范围可能存在一个预估值，这样可能会让我们更好的选择外围电阻的值。嗯，可能吧。 |
