用ad7792测pt100三线温度

发表于 2015-3-26 16:33

cauhorse 发表于 2015-3-26 16:24
Iout到差分测量端的两个1k电阻，摘掉试试。

手册好像也说512的那个电阻不要加0.1的去耦电容呢？
但有人还推荐要加电容

发表于 2015-3-26 16:36

耦合噪声的影响一定存在，但是具体影响大小只有你才能实地测量。
去耦是必要的，至少两个电源上应该加去耦电容；传输信号线可以考虑串电阻，不过也不是必需的。
另外，测量准确与否最好用标准电阻器检定，FLUKE有专门的4℃电阻，接上再看；
也可用标准信号源校正，板上没有标定电阻器的，你得先标定，再测量。

发表于 2015-3-26 16:43

没看到DS上写"Rref要与0.1uF电容并联”，不过有些应用上倒是并了这么个电容。
这个不纠结，试一下就OK了，具体看影响。

发表于 2015-3-26 16:44

cauhorse 发表于 2015-3-26 16:36
耦合噪声的影响一定存在，但是具体影响大小只有你才能实地测量。
去耦是必要的，至少两个电源上应该加去耦 ...

2个电压按照手册说的加4个电容了。spi的几根线要加电容吗？目前的测试板子布局没有弄好，电源地大面积铺铜了，只是跟数字地用过0欧连接起来了。是不是应该改为芯片附近小面积的数字地铺铜，在跟电源地连接呢？

好像有2个校正的寄存器，那个有用吗？
一致性怎么样呢，怎么校准呢？程序校准吗？

发表于 2015-3-26 16:53

双面板处理起来稍微麻烦点。芯片没有分AGND与DGND，所以大面铺地还是以AGND为准，比如铺在芯片同一侧；另一侧铺DGND，DVDD的解耦电容直接过孔接到DGND层上。
校准那部分没关注，不过上电最好执行一次校准过程。
不知道这个器件结果校正是自动完成还是需要人手动取值运算的，你可以看一下DS，现在一些ADC校准（有的叫内部标定）是自动完成的，对输出结果的修正也是自动进行的。

发表于 2015-3-27 09:57

cauhorse 发表于 2015-3-26 16:53
双面板处理起来稍微麻烦点。芯片没有分AGND与DGND，所以大面铺地还是以AGND为准，比如铺在芯片同一侧；另一 ...

麻烦你在看看ds 26校准的第一段最后两行。是每次转换完成都要执行一次零点和满量程校准吗？（那还怎么设置连续转换模式？校准完成进入空闲模式了），还是只要开始一次。再有内部的两个校准和系统的两个校准用那个好呢？有什么区别呢

发表于 2015-3-27 10:23

没有说必须每次转换前都执行。
ADC在开始转换前需要执行一次校正。这个器件分内部校正与外部校正两类操作方式。
内部校正的电平连接是内部自动完成的，启动校正程序后，器件内部自动校准零位及增益校正，我看了一下原版的DS，里面示意最终转换结果是自动完成校成计算的，也就是你不用手动计算RESULT = GAIN * ADC_DATA + OFFSET这个式子；
外部标定需要预先对引脚施加标定信号，以配合标定过程，你板子上要没设计这个功能就不太方便实现了。
DS有说零位校正是连续自动进行的，因而不需要每次都手动校正；而增益校正（就是满量程校正）只需要在设定增益变化时进行就可以了。
所以上电以后，运行一次内部校正（零位+增益），然后查询RDY引脚状态，电平翻高结束校正。之后让器件连续运行就可以了。

发表于 2015-3-27 11:31

cauhorse 发表于 2015-3-27 10:23
没有说必须每次转换前都执行。
ADC在开始转换前需要执行一次校正。这个器件分内部校正与外部校正两类操作方 ...

现在算出来电阻111.0019，大概25度多，室温。好像挺准了。:)
你的意思是芯片初始化时候执行一次内部的零点和满量程校准一次就行了吗？需要把系数计算后再写到数据寄存器吗？

发表于 2015-3-27 12:27

前排看热闹。。。。。。

登录 · 发表于 2015-3-27 13:24

本帖最后由 cl234583745 于 2015-3-27 13:26 编辑

展示下粗测得对比结果。只是突然升高会回落反应不够快，尤其是回落。不知道怎么回事
真是谢谢大家了

发表于 2015-3-27 15:06

不用每次转换前都校准。
程序里设置一个PT100标定程序，用信号源标定一次倒是更实用一些。

发表于 2015-3-27 15:16

cauhorse 发表于 2015-3-27 15:06
不用每次转换前都校准。
程序里设置一个PT100标定程序，用信号源标定一次倒是更实用一些。 ...

怎么标定？由阻值转温度的过程中？还是ad转换阻值过程中？
我用的查表法，查阻值对应的温度

发表于 2015-3-27 15:27

仪表要定期校验，可以参考温度计量仪表的校验方法。
用RTD校验仪模拟标准PT100的输出，取几个点进行校准。
FLUKE有卖这个东西的。

发表于 2015-3-27 15:44

本帖最后由 cl234583745 于 2015-3-27 15:50 编辑

cauhorse 发表于 2015-3-27 15:27
仪表要定期校验，可以参考温度计量仪表的校验方法。
用RTD校验仪模拟标准PT100的输出，取几个点进行校准。
...

不明白，校正改变什么了？校正后改变分度表？

发表于 2015-3-31 11:04

cauhorse 发表于 2015-3-27 15:27
仪表要定期校验，可以参考温度计量仪表的校验方法。
用RTD校验仪模拟标准PT100的输出，取几个点进行校准。
...

请问这个芯片可以驱动2路pt100三线吗？不是有AIN1+- AIN2+-吗？但是接2路恒流源不是电流被分小了吗？怎么办呢

发表于 2015-3-31 22:11

本帖最后由 cauhorse 于 2015-3-31 22:24 编辑

cl234583745 发表于 2015-3-27 15:44
不明白，校正改变什么了？校正后改变分度表？

就是仪表送检。
检完合格接着用，不合格修，修得好接着用，修不好打报废。
计量部门不帮你修表，自己能检的话就是调整起来方便一些，当然自己检的是不作数的。

发表于 2015-3-31 22:24

cl234583745 发表于 2015-3-31 11:04
请问这个芯片可以驱动2路pt100三线吗？不是有AIN1+- AIN2+-吗？但是接2路恒流源不是电流被分小了吗？怎 ...

直接混接可能是不合适的，你没法解算每个探头的测温结果。
通常如果AD通道数不能满足要求的话，可以用模拟开关做辅助，比方用4052之类的器件切换多个测温元件，有些带自校正或者补偿作用的仪表就是这么做的。切换的时候注意电路进入稳态的时间需求，一般在切换后要延迟一段时间再测量。

发表于 2015-4-1 14:47

cauhorse 发表于 2015-3-31 22:24
直接混接可能是不合适的，你没法解算每个探头的测温结果。
通常如果AD通道数不能满足要求的话，可以用模 ...

要3个开关的话，还不如再来一块了。都是单独的也不存在其他问题了

发表于 2015-4-1 14:47

cauhorse 发表于 2015-3-31 22:11
就是仪表送检。
检完合格接着用，不合格修，修得好接着用，修不好打报废。
计量部门不帮你修表，自己能检 ...

你说的是有关部门啊？我是问pt100和这个ad电路，如何校正精度，什么方法

登录 · 发表于 2015-4-1 15:52

本帖最后由 cl234583745 于 2015-4-1 15:54 编辑

cauhorse 发表于 2015-3-31 22:24
直接混接可能是不合适的，你没法解算每个探头的测温结果。
通常如果AD通道数不能满足要求的话，可以用模 ...

手册说要将avdd和dvdd都用0.1的电容分别去耦到agnd和dgnd。但我的avdd和dvdd都用的系统的5v的。那还有意义了吗？看看我这样画的可以吗，用dgnd铺铜了ad7792附近，但模拟输入部分没有。最右边其他部分都大面的gnd铺铜

用ad7792测pt100三线温度

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