现实中只有大容量电容短路可能损害器件本身
但前提是容量足够大且为单一元件，在充电电压较高时确实会产生很大的浪涌电流，从而使电容内部引出线处电流密度过高，局部温升明显进而破坏周边电解层（指电解电容，普通电容容量有限）或使引出线焊点脱焊，于是器件受损甚至报废。这里的局部温升跟散热条件无关，只是局部问题，来不及传导。不过，当电容内阻较大（包括ESR和ESL的共同影响）时，电流密度反而不够，这样的电容不怕短路。注意，在电容内部，电阻最大的地方就是引出线焊点处，这里是瞬态功率最集中的地方，W＝I2R。
楼主判断方向错误的原因一是理论方面，二是对器件结构工艺的了解方面。
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楼主
