请教:这样检测准确性如何?

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 楼主| linbei1988 发表于 2011-9-30 10:39 | 显示全部楼层 |阅读模式
本帖最后由 linbei1988 于 2011-9-30 12:05 编辑

如图所示XX和JMPX都是单片机普通IO口
CON1-CON4是4个跳针,用意在于检测每个跳针有没有插上
我想问的是:
1.是否靠XX供电,JMPX检测电压上升的时间来确定每个CON的状态?
2.各位见过用这种方法的产品吗?这样检测究竟可靠吗,能用在产品上吗?

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gx_huang 发表于 2011-9-30 11:10 | 显示全部楼层
要用内部带ADC的MCU才可以的,外部还要加一个对地的分压电阻。
否则,用充放电的不可靠准确,温度老化漂移大。
如果确实要这么做,最好有单独的一个GPIO接一个参考电阻到电容,作为参考。
 楼主| linbei1988 发表于 2011-9-30 12:06 | 显示全部楼层
要用内部带ADC的MCU才可以的,外部还要加一个对地的分压电阻。
否则,用充放电的不可靠准确,温度老化漂移大。
如果确实要这么做,最好有单独的一个GPIO接一个参考电阻到电容,作为参考。 ...
gx_huang 发表于 2011-9-30 11:10

没有参考IO口。。
有咩有见过这种检测方法的产品?
何工 发表于 2011-9-30 17:01 | 显示全部楼层
不一定要有AD口,,,有比较口就可以, 2051就可以
选好稳定的元件来做还是可靠的.
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