[其他ST产品] STM32F030F4 HSI时钟温度测试过不去

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 楼主| cr315 发表于 2021-2-4 10:39 | 显示全部楼层 |阅读模式
最近做一个传感器项目,因为比较紧凑,选用了F030F4的单片机使用内部8M时钟PLL到36M作为时钟源,在代码中开启了2个定时器,一个1s一个50ms,1s的定时器中进行喂狗并翻转IO口电平,50ms定时器中查询某个状态位然后通过io驱动LED闪烁做状态指示,定时器中断代码如附件所示。目前遇到的问题是用烙铁在芯片上方5mm处加温,过一会1s定时器控制翻转电平的io口变成了低电平,不再翻转,50ms的定时器io口电平翻转正常,但是用示波器测波形不稳定,有时会从9.6Hz直接跳到10.16Hz然后再跳回来。现在程序正常工作,在1s的定时器里做了喂狗操作,能确定的是程序没跑飞,也没复位,串口输出,i2c读取传感器数据也正常,就是1s定时器翻转io口电平驱动led,从闪烁变成了常亮。
请大家给帮忙分析下看看是什么情况,谢谢
豌豆爹 发表于 2021-2-4 10:56 | 显示全部楼层
问题是用烙铁在芯片上方5mm处加温。

这样做你不知道IC受到的真实温度,有没有超出工作温度上限,还是用恒温箱做测试吧。
xiaoqizi 发表于 2021-3-1 23:34 | 显示全部楼层
别喂狗了  直接关掉 好了
木木guainv 发表于 2021-3-1 23:37 | 显示全部楼层
程序是不是有问题啊
磨砂 发表于 2021-3-1 23:40 | 显示全部楼层
能定位到问题点吗
晓伍 发表于 2021-3-1 23:43 | 显示全部楼层
通讯方式是什么啊
八层楼 发表于 2021-3-1 23:46 | 显示全部楼层
引脚有没有短接的啊
SantaBunny 发表于 2023-3-8 10:45 | 显示全部楼层
通常温度急剧变化对内部时钟会有影响,如果影响到节温,那基本芯片就不能运行了
shimx 发表于 2023-7-13 23:00 | 显示全部楼层
问题是用烙铁在芯片上方5mm处加温。
jiaxw 发表于 2023-7-13 23:01 | 显示全部楼层
这样做你不知道IC受到的真实温度,有没有超出工作温度上限,还是用恒温箱做测试吧。
spark周 发表于 2023-7-13 23:03 | 显示全部楼层
别喂狗了  直接关掉 好了
liliang9554 发表于 2023-7-13 23:05 | 显示全部楼层
程序是不是有问题啊
午夜粪车 发表于 2023-7-13 23:06 | 显示全部楼层
能定位到问题点吗
zhaoxqi 发表于 2023-7-13 23:07 | 显示全部楼层
通讯方式是什么啊
gongche 发表于 2023-7-13 23:08 | 显示全部楼层
引脚有没有短接的啊
huwr 发表于 2023-7-13 23:09 | 显示全部楼层
通常温度急剧变化对内部时钟会有影响,
huanghuac 发表于 2023-7-13 23:11 | 显示全部楼层
如果影响到节温,那基本芯片就不能运行了
SantaBunny 发表于 2023-10-27 09:38 | 显示全部楼层
温度急剧变化对内部时钟会有影响,影响到节温的话,基本上芯片就不能运行了
万图 发表于 2023-12-1 08:27 | 显示全部楼层

ESD静电保护器基本上都是通过静电进行吸收和耗散
Uriah 发表于 2023-12-1 09:30 | 显示全部楼层

这类型灌封胶一般分为A、B双组份在进行1:1的配比后再进行灌封的操作
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