IO口带载能力检测

发表于 2021-8-19 05:48

如何对推挽式输出和开漏型输出的IO口带载能力进行检测？要求驱动能力不小于2mA？在2mA的负载情况下，输出电压不大于0.4V。

发表于 2021-8-23 15:21

看芯片规格书，一般里面都有标明

发表于 2021-8-25 05:44

lfc315 发表于 2021-8-23 15:21
看芯片规格书，一般里面都有标明

芯片规格书中只是注明，没有具体说明如何测试吧

发表于 2021-8-26 08:41

对，一般都有注明，你看规格书就好了。不过2mA就不用测了吧，随便拿个单片机都大于2mA

发表于 2021-8-27 05:36

chongdongchen 发表于 2021-8-26 08:41
对，一般都有注明，你看规格书就好了。不过2mA就不用测了吧，随便拿个单片机都大于2mA ...

也可能是我没表述清楚，像单片机的引脚IO口这样不是测试对象，我想测试的是一个产品（比如物联表中的计量芯、管理芯）对外输出的端口，例如TXD、RXD、SPI接口等，测试它们的带载能力，谢谢！

发表于 2021-8-29 21:20

那你就拿电位器作为负载，阻值根据电源电压和2mA测试基准用欧姆定律计算，取稍大些的值，再调节电位器使输出电流校准到2mA，测试此时的输出电压即可获知是否符合要求。

发表于 2021-9-1 11:09

说实话这类芯片级别的不是一般能测出来的，有好多外在因素影响，仪器精度、环境温度、芯片质量、触点面积、单引脚或多行脚同时测量…

发表于 2021-9-1 18:23

1、看规格书2、用一个精度比较高的电源设备，可以显示电流的那种，精度要求mA以下，把它串在输出管脚和GND直接，看电源倒灌多少电流

发表于 2022-1-8 18:05

不同的片子有差别，你用的是什么？搜索

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具体自己加负载或电源自己测量就是了，问了也没用。和实际差别太大。

发表于 2022-1-9 13:47

基本的欧姆定律。
R=U/I=(VDD-0.4V)/2mA

发表于 2022-1-9 14:29

实际芯片量产测试的时候就是简单的欧姆定律,
用FVMI ( Force V Meas I) 或者FIMV ( Force I Meas V)都可以
当IO输出High的时候, source电流, 输出Low的时候, sink电流

可以用电子负载来做这个试验, 设置好钳位电压和电流就好了。