计数外设篇学习之AN4187_在STM32系列中使用CRC外设

发表于 2023-11-28 09:53

循环冗余校验（CRC）技术用于检测数字数据中的错误，但在检测到错误时不进行校正。该技术旨在检查数据传输或数据存储的完整性。在确保数据可靠性方面，CRC技术功能强大且易于实施。该技术的诊断覆盖范围可满足基本安全标准要求。这就是认证符合IEC 60335-1 和 IEC 607030-1 标准（称为“B 级”要求）的ST固件时，在Flash内容完整性自检检查中使用CRC功能的原因。

发表于 2024-8-1 07:07

超出 120 个字节则必须用 idata 显式的指定为间接寻址

发表于 2024-8-1 09:03

靠近功率开关管或整流器的电容分到的纹波电流远多于相距较远的电容分到的纹波电流

发表于 2024-8-1 10:06

small 模式下未指存储类型的变量默认为data型

发表于 2024-8-1 12:02

离线式变换器

发表于 2024-8-1 13:05

一般要进行内存优化，尽量提高内存的使用效率

发表于 2024-8-1 14:08

让尽可能多的变量使用直接寻址，提高速度

发表于 2024-8-1 15:01

经变压器映射成这么多节点

发表于 2024-8-1 16:04

访问时采用不同的指令，所以并不会占用 RAM 空间

发表于 2024-8-1 17:07

极限情况下可以定义的变量可占 247 个字节

发表于 2024-8-1 19:03

51 单片机不使用线性编址

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