[通用 MCU] 如何处理MCU在ADC采样时IO出现的毛刺问题

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地瓜patch 发表于 2024-12-2 23:06 | 显示全部楼层
星辰大海不退缩 发表于 2024-9-25 19:27
要对 ADC 采样结果进行适当的软件滤波处理

先低通滤波
suncat0504 发表于 2024-12-10 22:02 | 显示全部楼层
对于某个通道连续采样的,中间的数据,是不是干扰会少一些,会更准确一些?
AutoMotor 发表于 2025-1-22 06:19 | 显示全部楼层
建议做好电路设计,比如地线布局:保证地线布局合理,降低地线噪声。
AIsignel 发表于 2025-1-22 15:47 | 显示全部楼层
数字滤波仍然是一个好方法
Burnon_FAE_3 发表于 2025-1-23 09:32 | 显示全部楼层
学习了,谢谢。
未来AI 发表于 2025-1-24 20:37 | 显示全部楼层
周围的电磁环境可能会干扰io端口。
理想阳 发表于 2025-1-25 19:23 | 显示全部楼层
针对MCU在ADC采样时IO出现的毛刺问题,可采取滤波措施,如增加软件滤波算法或硬件去噪电路,以平滑信号,减少干扰。
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